[发明专利]基于磁性标记的顺磁箱内物体位移测量装置及其测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及无损检测领域，具体涉及的是一种基于磁性标记的顺磁箱内物体位移测量装置及其测量方法。

背景技术

在无损检测领域中，箱内物体的检测是常见的应用场合，例如对箱体封装的产品内零部件发生相对位移、错位的检测，特别是当箱体不能轻易拆开或者拆开会对产品造成损坏的时候，这种无损检测非常有必要。

目前，对箱内物体的检测方法一般采用X射线成像或γ射线检测技术，其中，X射线成像技术普遍应用在安检领域及医学领域，前者更关注箱内物体的形状、结构等信息，后者更关注人体器官、组织的图像及病理，但X射线对金属箱体的穿透能力较弱，对箱内物体微小位移的测量更是罕见。而γ射线对人体健康危害较大，因而更多用于材料探伤，但严格来说，γ射线对材料是有微损的。此外，虽然γ射线对缺陷的定性测量能力较强，但同样难以定量测量物体的微小位移。

因此，有必要提供一种对金属穿透能力深、无损、且对人体健康无危害的箱内物体位移、错位的检测技术。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明提供了一种基于磁性标记的顺磁箱内物体位移测量装置及其测量方法，可对顺磁金属或非金属箱内物体的位移进行无损检测，拥有着较高的检测深度和较低的误差。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

基于磁性标记的顺磁箱内物体位移测量装置，包括磁屏蔽间、龙门式测量架、磁性标记、第一测量系统和第二测量系统，其中：

龙门式测量架，设置在磁屏蔽间内，其内放置有装载了被测物体的顺磁箱；

磁性标记，固定在被测物体离顺磁箱内表面最近的部位，并沿着被测物体可能发生位移的方向磁化；

第一测量系统，位于磁性标记正上方，并靠近顺磁箱外表面，用于记录被测物体放置前后以及被测物体发生位移后的磁场变化；

第二测量系统，同时与龙门式测量架和第一测量系统连接，用于第一测量系统在记录磁场变化的同时进行相应的一维坐标标定。

优选地，所述磁性标记为钕铁硼磁粉。

具体地说，所述第一测量系统包括位于磁性标记正上方、且靠近顺磁箱外表面的磁通门磁强计探头，一端与该磁通门磁强计探头连接、另一端与第二测量系统连接的探头夹，以及通过信号线与该磁通门磁强头连接的磁通门磁强计数字显示器；所述磁通门磁强计探头的方向平行于磁性标记的磁极方向。

具体地说，所述第二测量系统包括固定在龙门式测量架内、且与顺磁箱内被测物体移动方向平行的光栅尺，滑动连接在该光栅尺上、且与探头夹另一端连接的位移传感器，以及通过信号线与该位移传感器连接的光栅尺数字显示器。

进一步地，所述探头夹长度为5cm～10cm。

优选地，所述磁屏蔽间为双层坡莫合金磁屏蔽间。

再进一步地，所述的光栅尺、位移传感器、探头夹和磁通门磁强计探头各自的外部均包裹有由顺磁性材料制成的磁屏蔽层。

基于上述装置的结构，本发明还提供了该测量装置的测量方法，包括以下步骤：

(1)利用磁通门磁强计探头沿光栅尺量程测量顺磁箱内放置被测物体前各个点的磁场，然后记录和绘制出磁场空间分布曲线，并将其记为背景磁场；

(2)继续利用磁通门磁强计探头沿光栅尺量程测量顺磁箱内放置被测物体后各个点的磁场，然后各自减去步骤(1)中相同坐标点的背景磁场，再绘制出磁场空间分布曲线，得到被测物体发生位移前的样品磁场；

(3)根据步骤(2)绘制的曲线，将磁通门磁强计探头移动到曲线斜率最大的位置，然后记录该点的坐标值及相应的样品磁场；

(4)被测物体发生位移后，磁通门磁强计探头位置不变，测量出该点此时的磁场，然后再次减去相同坐标点的背景磁场，得到位移后该点的样品磁场；

(5)根据步骤(4)所得到的样品磁场，在步骤(2)绘制的曲线中找到对应的坐标值，然后将该坐标值减去步骤(3)中记录的坐标值，即可得到被测物体的位移量。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

(1)本发明通过设置磁屏蔽间、龙门式测量架、第一测量系统、第二测量系统和磁性标记，并将顺磁箱放在磁通门磁强计探头下方，探头与箱体外表面尽量接近，被测物体可能发生位移的方向平行于光栅尺。如此一来，在被测物体发生位移后，磁通门磁强计探头可测得磁场的变化，从而根据磁粉磁场的空间分布规律及背景磁场可以测得物体的位移。本发明具备了同时对顺磁金属箱与非金属箱内物体位移的检测能力，本发明利用静磁场在顺磁性材料内穿透深度大的特点进行位移检测，可以克服X射线难以穿透金属的缺点。