[发明专利]一种简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置在审

专利信息
申请号: 201610029279.5 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN105629421A 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 张蓓;高枫;闫鹏 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G02B7/02 分类号: G02B7/02;G02B21/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 郝瑞刚
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 简易 显微镜 物镜 倾斜 调整 校验 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及显微镜技术领域,尤其涉及一种简易型显微镜物镜的 倾斜调整校验装置。

背景技术

显微镜的放大作用主要取决于物镜,物镜是由若干个透镜组合而 成的一个透镜组。物镜作为显微镜最重要的光学部件,直接关系和影 响成像的质量和分辨率等各项光学技术参数,亦是衡量一台显微镜质 量的首要标准。随着成像质量、分辨率要求的提高及各种突破光学衍 射极限的技术的快速发展,各种高数值孔径例如水浸、油浸及更高数 值孔径的固浸物镜应运而生。在光学检测的过程中,若显微镜的物镜 倾斜或者光线中心偏离物镜中心,会导致像差增加,使得聚光能力及 数值孔径难以充分使用,直接降低成像的质量和分辨率等技术参数, 甚至导致某些突破衍射极限的方法失效。因此,检测前有必要对显微 镜中安装物镜的物镜架进行倾斜调整及校验,以使物镜架上的物镜安 装孔的中心与光线中心同轴,从而保证物镜的中心与光线中心同轴, 使得光线不会偏离物镜中心。

然而,目前市场上还没有可以用于高数值孔径显微物镜的倾斜调 整校验装置,导致光学检测时,无法精确判断物镜是否发生倾斜,也 就无法保证成像质量。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是现有技术缺少可以用于高数值孔径显 微物镜的倾斜调整校验装置,导致光学检测时无法精确判断物镜是否 发生倾斜的问题。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种简易型显微镜物镜的 倾斜调整校验装置,用于物镜架的倾斜调整及校验,包括:反射镜、 反射镜支架和连接件,反射镜支架设有反射镜安装孔,反射镜设于反 射镜安装孔内并与反射镜安装孔的轴线垂直;连接件设有外螺纹,其 一端与反射镜支架连接,且另一端通过外螺纹与物镜架上的物镜安装 孔配合连接,使得反射镜安装孔的轴线与物镜安装孔的轴线重合且反 射镜的反射面朝向外界激光源。

根据本发明,反射镜安装孔为盲孔,反射镜的反射面朝向反射镜 安装孔的开口端。

根据本发明,反射镜可拆卸地嵌设于反射镜安装孔。

根据本发明,连接件轴向中空。

根据本发明,连接件与反射镜安装孔的开口端相连接。

根据本发明,反射镜安装孔的侧壁上设有内螺纹,内螺纹与连接 件的外螺纹配合连接。

(三)有益效果

本发明的上述技术方案具有如下优点:

本发明的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置,通过连接件的 外螺纹与物镜架上的物镜安装孔配合连接,使反射镜安装孔的轴线与 物镜安装孔的轴线重合且反射镜的反射面朝向外界激光源,使得外界 激光源发射的激光光束能够射到反射镜的反射面上,利用激光光束垂 直入射到反射镜的反射面上时,反射光将按原路返回的原理判断物镜 架是否倾斜:若反射光按原路返回,则判断物镜架未倾斜;若反射光 未按原路返回,则判断物镜架存在倾斜角度,应对其进行调整校验, 直至反射光按原路返回。由此实现了对物镜架是否存在倾斜的精确判 断,并可对其进行调整校验,保证物镜架上物镜安装孔相对激光光束 的中心不存在倾斜角度,从而保证物镜中心与激光光束中心之间不存 在倾斜,进而保证较高的成像质量,满足光学检测对高分辨率和高成 像质量与日俱增的需求。

附图说明

图1是本发明实施例简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置的结 构示意图;

图2是图1中示出的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置沿纵 向的剖视示意图;

图3是图1中示出的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置安装 在物镜架上时的示意图;

图4是显微镜的物镜架存在倾斜时的工作状态图;

图5是图1中示出的简易型显微镜物镜的倾斜调整校验装置安装 在物镜架上且物镜架存在倾斜时的工作状态示意图。

图中:1:反射镜;2:反射镜支架;20:反射镜安装孔;3:连接 件;4:外螺纹;5:内螺纹;6:物镜架;60:物镜安装孔;7:激光 源;8:光阑;9:物镜。

具体实施方式

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