[发明专利]用于纠错修改冗余器件组及利用其修复电路缺陷的方法在审
| 申请号： | 201610024687.1 | 申请日： | 2016-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN105678003A | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 方镜清 | 申请（专利权）人： | 中山芯达电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中山市铭洋专利商标事务所(普通合伙) 44286 | 代理人： | 邹常友 |
| 地址： | 528400 广东省中山市火*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 纠错 修改 冗余 器件 利用 修复 电路 缺陷 方法 | ||
【权利要求书】：
1.种用于纠错修改的冗余器件组，其特征在于：包括若干个由一个NMOS管和一个PMOS管组成的基本单元，所述PMOS管的源极连接芯片VSS，其漏极悬空或连接NMOS管的源极，所述NMOS管的漏极连接芯片的GND,所述PMOS管的栅极与NMOS管的栅极相连接；该基本单元数量在2个以上。
2.一种利用如权利要求1所述的用于纠错修改的冗余器件组修复电路缺陷的方法，其具体包括以下操作步骤：
一）在电路设计完成后，根据电路板剩余空间的面积设置若干数量的冗余器件组基本单元；
二）电路运行出现缺陷的，根据电路运行原理设计对应修复该缺陷的逻辑门电路；
三）根据该逻辑门电路来调整所述基本单元的两MOS管之间连线的连接或拆断，利用一个或多个基本单元构成逻辑门电路所需的逻辑门器件。
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