[发明专利]多温区结构热试验用石英灯及其制造方法在审
申请号: | 201610021282.2 | 申请日: | 2016-01-13 |
公开(公告)号: | CN105702560A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 孙磊;严超 | 申请(专利权)人: | 北京机电工程研究所 |
主分类号: | H01K1/14 | 分类号: | H01K1/14;H01K1/24;H01K3/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100074 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 多温区 结构 试验 石英 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及结构热试验技术领域,尤其涉及一种多温区结构热实验用 石英灯及其制造方法。
背景技术
目前,国内外在航天飞机、导弹、无人机等超声速飞行器的研制过程 中均需要进行大量的综合热试验。其中以石英管碘钨灯(简称石英灯)为发 热体的一整套热试验技术发展较完善,应用也较普遍。石英灯的热惯性小, 便于电控,非常适应气动加热的瞬变特点。同时体积小,功率大,可以拼 装成不同尺寸和形状的加热器,在大面积上可以获得1200~1300kW/ m2大小的热流密度,它既适用于大型全尺寸结构热试验,也适用小型试 验,对于外形及结构复杂的试验件,有较好的适应能力,可以满足大部分 导弹结构热试验要求。
参考图1,对于多温区试验要求,目前采用多种不同功率的石英灯1 组成的阵列,但这样在石英灯之间存在冷端2,不可避免地造成温区与温 区之间的盲区影响,在盲区部位热流密度会产生突降,造成加热效果与试 验需求之间的偏差,影响试验准确性。
发明内容
在下文中给出关于本发明的简要概述,以便提供关于本发明的某些方 面的基本理解。应当理解,这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它 并不是意图确定本发明的关键或重要部分,也不是意图限定本发明的范 围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念,以此作为稍后论述的更详 细描述的前序。
为解决上述问题,本发明提出一种多温区结构热实验用石英灯及其制 造方法,能够有效避免多温区之间的盲区影响。
一方面,本发明提供一种多温区结构热试验用石英灯,包括:
石英灯管,所述石英灯管的两端各设有N个安装孔,其中N为大于 或等于2的偶数;
N个发热丝,所述发热丝为一端开口、一端封闭的结构,所述N个 发热丝分布在所述石英灯管内的两端,且封闭端呈相对设置,所述发热丝 的开口端的两个端脚分别与位于所述石英灯管同一端的两个安装孔密封 连接。
另一方面,本发明还提供一种多温区结构热试验用石英灯的制造方 法,包括:
在石英灯管的两端各加工N个安装孔,其中N为大于或等于2的偶 数;
将发热丝加工为一端开口、一端封闭的结构;
将N个发热丝分别分布在所述石英灯管内的两端,使封闭端呈相对 设置,并将各个发热丝开口端的两个端角分别与位于所述石英灯管同一端 的两个安装孔密封连接。
本发明提供的多温区结构热试验用石英灯及其制造方法,采用一端开 口一端封闭结构的发热丝,分别在石英灯管内相对设置,避免了温区与温 区之间的盲区影响,有效提高结构热试验的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对 实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地, 下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员 来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附 图。
图1为现有技术中多温区结构热实验一种实施例的示意图。
图2为本发明提供的多温区结构热试验用石英灯一种实施例的结构 示意图。
图3为本发明提供的多温区结构热试验用石英灯制造方法一种实施 例的流程图。
具体实施方式
下面参照附图来说明本发明的实施例。在本发明的一个附图或一种实 施方式中描述的元素和特征可以与一个或者更多个其他附图或实施方式 中示出的元素和特征相结合。应当注意,为了清楚目的,附图和说明中省 略了与本发明无关的、本领域普通技术人员已知的部件和处理的表示和描 述。
实施例一
参考图2,本实施例提供一种多温区结构热试验用石英灯,包括:
石英灯管201,石英灯管201的两端各设有N个安装孔202,其中N 为大于或等于2的偶数;
N个发热丝203,发热丝203为一端开口、一端封闭的结构,N个发 热丝203分布在石英灯管201内的两端,且封闭端呈相对设置,发热丝 203的开口端的两个端脚分别与位于石英灯管同一端的两个安装孔202密 封连接。
本实施例以石英灯管201两端各设有2个安装孔,设置2个发热丝为 例进行说明,石英灯管201的尺寸根据实际设置的发热丝的数量设计,安 装孔202的尺寸根据发热丝203的功率确定。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京机电工程研究所,未经北京机电工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610021282.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型晶圆减薄方法
- 下一篇:自行车前叉罗拉定位结构