[发明专利]一种扇区遍历缺相检测方法有效
| 申请号： | 201610018219.3 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN105606909B | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 李锋源;黄詹江勇;吴金荣;吴庆彬 | 申请（专利权）人： | 厦门科灿信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/16 | 分类号： | G01R29/16 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 361008 福建省厦门市湖里*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 扇区 遍历 检测 方法 | ||
1.一种扇区遍历缺相检测方法，其特征在于：包括如下步骤，
步骤S1：实时采样三相市电的线电压Uab、Ubc、Uca，其中，采样频率为f，三相市电周期为T；
步骤S2：计算当前扇区标志值S(k)=S1(k)+S2(k)+S3(k)，并存储，其中，
当Uab>Ubc，S1(k)=4*Z，当Uab＜Ubc，S1(k)=0；
当Ubc>Uca，S2(k)=2*Z，当Ubc＜Uca，S2(k)=0；
当Uca>Uab，S3(k)=1*Z，当Ubc＜Uca，S3(k)=0；
步骤S3：分别计算当前扇区以及临近当前扇区前N-1扇区的扇区标志值，并判断该N个扇区中，扇区标志值等于6*Z、5*Z、4*Z、3*Z、2*Z、1*Z的个数是否均大于等于，若扇区标志值等于6*Z、5*Z、4*Z、3*Z、2*Z、1*Z其中之一的个数小于，则三相市电缺相异常；
其中，N为6的整数倍，N/f=T，N≥18，X为大于等于0的自然数，且X≤N/30，Z为正整数。
2.根据权利要求1所述的一种扇区遍历缺相检测方法，其特征在于：所述Z的取值为1。
3.根据权利要求1所述的一种扇区遍历缺相检测方法，其特征在于：所述N=60，X=2。
4.根据权利要求1所述的一种扇区遍历缺相检测方法，其特征在于：判断当前扇区以及临近当前扇区前N-1扇区中，
若扇区标志值等于2*Z或5*Z的个数大于等于，则三相市电缺A相；
若扇区标志值等于6*Z或1*Z的个数大于等于，则三相市电缺B相；
若扇区标志值等于3*Z或4*Z的个数大于等于，则三相市电缺C相；
其中，Y为大于等于0的自然数。
5.根据权利要求4所述的一种扇区遍历缺相检测方法，其特征在于：所述Z取值为1，Y≤N/30。
6.根据权利要求5所述的一种扇区遍历缺相检测方法，其特征在于：所述N=60，Y=2。
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