[发明专利]一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置

说明书

本发明公开了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，每个信号输入端可以分时输入多种信号，进而通过对应的开关控制形成多条输入信号线路，多条信号线路通过开关的控制使得走向完全不同，例如，其中一条信号线路可以作为正常点灯检测时的信号输入线，另外一条信号线路则作为其他特殊测试时的信号输入线路例如老化处理，这样通过控制信号端控制相应的开关，使得不同的输入信号通过不同的信号线路进入显示面板，以满足显示面板的正常点灯测试、老化处理等测试需求，相对于现有技术测试信号的输入可以不经过移位寄存器单元，避免了特殊测试信号例如老化信号对移位寄存器单元的损坏，保证了显示面板的正常显示功能。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置。

背景技术

有机发光二极管(OLED，Organic Light Emitting Diode)由于其具有自发光、高亮度、广视角、快速响应时间以及超轻、超薄、可实现柔性等特性，已经被视为显示器的明星产品。目前主流生产的有源矩阵有机发光二极管(AMOLED，Active Matrix Organic LightEmitting Diode)显示器件工艺流程相对于液晶显示器比较复杂，且由于AMOLED显示器件内部复杂的电路致使其也容易产生较多的电学性不良，阵列基板段制程的晶体管在未经老化之前存在较大的漏电流，在正常点灯检测时黑色画面下极易显示亮点缺陷，给产品的良率造成严重影响。因此，目前业界通用的手段是对AMOLED显示面板进行晶体管老化处理，即通过老化手段对显示面板的像素电路中的相关开关晶体管进行老化工艺，进而可以极大的消弱晶体管在栅极关态电压下的漏电流，从而消除因为显示区域晶体管漏电流较高产生的亮点不良和漏光现象，然而老化过程中加入的信号明显区别于正常点灯检测或正常使用过程中的信号，一般地，对晶体管进行老化的信号具有高电压和反向的特性。

晶体管老化过程主要针对显示区域的晶体管进行老化，但由于显示面板的栅扫描驱动方式限制，我们必须将老化信号输入移位寄存器单元，再通过移位寄存器单元的内部转化输出一组老化信号进入显示区域，在这个过程中由于老化信号的高电压和反向性容易造成移位寄存器单元发生损坏，甚至无法正常工作，进而造成显示面板一系列显示异常等问题，同时，由于移位寄存器单元的信号输出限制，无法输出高效的老化信号，因而无法高效的完成对晶体管的老化效果。

因此，如何不经过移位寄存器单元向显示面板内部输入检测信号和老化信号，实现显示面板的正常检测和老化处理，避免老化信号损坏移位寄存器单元影响显示面板正常显示，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置，用以解决现有技术中存在对显示面板的显示区域的晶体管进行老化处理时，老化信号需要经过移位寄存器单元的转化输出，造成移位寄存器单元的损坏进而影响显示面板的正常显示的问题。

本发明实施例提供了一种测试电路，包括：多个信号输入端、多个控制信号端，以及多个开关；其中，

每个所述控制信号端对应多个所述开关；每个所述信号输入端对应多个所述开关；

各所述开关的控制端与对应的所述控制信号端相连，输入端与对应的所述信号输入端相连；各所述开关用于在对应的所述控制信号端的控制下，将对应的所述信号输入端输入的信号通过输出端输出。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述开关，具体包括：开关晶体管；

所述开关晶体管的栅极与对应的所述控制信号端相连，源极与对应的所述信号输入端相连，漏极用于输出对应的所述信号输入端输入的信号。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述测试电路中，所述测试电路包括：三个所述信号输入端、三个所述控制信号端和九个所述开关晶体管；其中，

每个所述控制信号端对应三个所述开关晶体管；每个所述信号输入端对应三个所述开关晶体管；