[发明专利]触控模组检测与优化方法

说明书

一种触控模组的检测与优化方法，适用于一个包含多个触控单元的触控模组，每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值。该触控模组的检测与优化方法藉由该触控模组对于每一个触控单元：获得多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值；计算该显示单元所显示的该灰阶的数值分别在多个区间的次数；根据该触控单元的该原始数值、在该区间的该次数、及多个补偿系数，计算而获得该触控单元的一个校正数值。该校正数值能有效地补偿该原始数值由于该显示单元所包括的多个液晶电容对该对应的显示单元所侦测的电容的影响所产生的误差。

技术领域

本发明涉及一种优化方法，特别是指一种触控模组的检测与优化方法。

背景技术

将平面显示器(Flat Panel Display)与触控功能相结合的触控屏幕已经广泛地应用在我们的生活中，例如智能型手机、平板电脑、笔记本电脑等等。在多种实现触控屏幕的技术中，采用投射式电容触控(Projected Capacitive Touch)技术以实现多点触控，并采用内嵌式(On-cell，In-Cell等)的设计方式，将触控传感器直接整合入平面显示器的生产制程中，以使得触控屏幕更为轻薄且透光率高，更能符合行动装置的需求与趋势。然而，由于内嵌式的设计方式是将触控传感器的相关电路整合在平面显示器的薄膜晶体管的基板上，导致触控传感器所侦测到的触控信号会受到平面显示器的驱动信号的干扰而具有误差，也因而成为一个待解决的问题。

发明内容

因此，本发明的目的，在于提供一种触控模组的检测与优化方法。

于是，本发明触控模组的检测与优化方法，适用于一个包含多个触控单元的触控模组，每一个触控单元侦测一个电容的电荷变化而获得一个原始数值，该触控模组的检测与优化方法藉由该触控模组对于每一个触控单元来实施，并包含步骤(a)、(b)、及(c)。

步骤(a)，获得多个显示单元所分别显示的多个灰阶的数值。每一个显示单元包括一个液晶电容，且该液晶电容的大小会影响该触控单元所侦测的该电容的大小。

步骤(b)，计算该显示单元所显示的该灰阶的数值分别在多个区间的次数。

步骤(c)，根据该触控单元的该原始数值、在该区间的该次数、及多个补偿系数，计算而获得该触控单元的一个校正数值。

在一些实施例中，其中，在步骤(b)中，该区间的范围彼此不重迭，且该区间的集合为0与一个灰阶最大值之间的所有整数。

在一些实施例中，其中，在步骤(c)中，定义该原始数值为D0、该校正数值为D、该补偿系数分别为C1、C2、C3、...Ck，该区间分别为一个第一区间、一个第二区间、一个第三区间、...一个第k区间，分别在该第一区间、该第二区间、该第三区间、...该第k区间的该次数为N1、N2、N3、...Nk，k为正整数且为该区间的总数，则D＝D0+C1*N1+C2*N2+C3*N3+...+Ck*Nk，C1、C2、C3、...Ck为实数，N1、N2、N3、...Nk为正整数。

本发明的有益效果在于藉由该触控模组获得会影响该触控单元的该显示单元的该灰阶的数值，并根据该触控单元的该原始数值、该灰阶的数值分别落在该区间的次数、及该补偿系数，计算而得一个校正数值。

附图说明

图1是一个示意图，说明现有技术的一个液晶分子所显示的灰阶数值与该液晶分子的电容值之间的对应关系；

图2是一个流程图，说明本发明触控模组的检测与优化方法的一个实施例；

图3是一个示意图，说明该实施例所适用的一个触控单元及多个显示单元之间的相对关系。

其中，S1～S3是步骤，8是显示单元，9是触控单元。

具体实施方式