[发明专利]一种电磁执行器温升与损耗特性的分析方法在审
申请号: | 201610014844.0 | 申请日: | 2016-01-11 |
公开(公告)号: | CN105676026A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 李波;王赓;葛文庆 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 255049 山东省淄博*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电磁 执行 器温升 损耗 特性 分析 方法 | ||
1.一种电磁执行器温升与损耗特性的分析方法,其特征在于,包括:
S1.电磁执行器的内部损耗形式辨识与评估;
S2.电磁执行器的损耗测试;
S3.引起温升的损耗定量分析;
S4.能量损耗的理论模型;
S5.三维耦合暂态分析模型;
S6.电磁执行器的温升测试;
S7.温度场分布与损耗规律;
S8.结果吻合?
S9.电磁执行器的温升与损耗特性。
2.根据权利要求1所述的一种电磁执行器温升与损耗特性的分析方法,其特征在于:所述步骤S1的电磁执行器的内部损耗形式与评估包括机械损耗、铜耗和铁耗。
3.根据权利要求1所述的一种电磁执行器温升与损耗特性的分析方法,其特征在于:所述步骤S1、S2、S3、S4、S5、S6和S7均与电磁执行器的材料特性、控制参数和结构参数相关。
4.根据权利要求1所述的一种电磁执行器温升与损耗特性的分析方法,其特征在于:所述步骤S5的三维耦合暂态分析模型为电磁执行器通用分析模型。
5.根据权利要求1所述的一种电磁执行器温升与损耗特性的分析方法,其特征在于:所述步骤S2的电磁执行器的损耗测试包括S10、S20、S30、S40、S50、S70和S80;所述步骤S6的电磁执行器的温升测试包括S10、S20、S30、S40、S60、S70和S80。
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