[发明专利]内存芯片唯一识别码制成方法在审

专利信息
申请号: 201610010601.X 申请日: 2016-01-08
公开(公告)号: CN105654160A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 华余全;陈憬 申请(专利权)人: 沛顿科技(深圳)有限公司
主分类号: G06K17/00 分类号: G06K17/00
代理公司: 东莞市中正知识产权事务所 44231 代理人: 徐康
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 内存 芯片 唯一 识别码 制成 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及带有集成电路的芯片,涉及连同机器一起使用的记录载体,并且至少其中一部分设计带有数字标记、和至少一种用于证明的标记,尤指一种内存芯片唯一识别码制成方法。

背景技术

随着信息化的不断发展,以及内存芯片的广泛应用,用户或客户对芯片的生产制造、销售、使用过程的追踪要求越来越高,也希望越来越精准。不但要求能能够追踪到生产的每一个批次,也要求产品追踪到单个产品,于是芯片追踪功能由批次转换到更为精细的单个芯片的需求也是势在必行。

当前市场上用于产品追踪的技术广为使用大致有两种:一、射频识别(RFID)二、二维码追踪。

射频识别(RFID)是一种无线通信技术,可以通过无线电讯号识别特定目标并读写相关数据,而无需识别系统与特定目标之间建立机械或者光学接触。

二维码信息容量大;编码范围广,可以把图片、声音、文字、签字、指纹等可以数字化的信息进行编码,用条码表示出来;并且纠错能力强,译码可靠性高;保密性、防伪性好,易识读等多方面优点。在生产过程中DieBonding(抓取晶圆每颗颗粒)工站建立每条基板的芯片颗粒点阵图,然后在LaserMark(盖印)工站结合每条基板的点阵图将根据唯一识别码生成的二维码盖印到每条基板上的每颗芯片上,从而可以达到每颗芯片在后续的生产和使用过程中唯一识别追踪的功能。

发明内容

针对市场的需要和现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种内存芯片唯一识别码制成方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种内存芯片唯一识别码制成方法,其特征在于包括如下步骤;

1):操作系统按一定规则产生唯一识别码,保存在操作系统数据库内;

2):操作系统记录该生产批次(Lot)在生产工艺流程各道工序的操作信息;

3):在生产工艺流程的贴芯片(Die)工序(DieBonding)前的基板(Substrate)准备工序中,使用条码打印机器(IDPrinter)给待使用的基板(Substrate)打印上条码(SBTID);

4):在生产工艺流程的贴芯片工序(DieBonding)上基板(Substrate)时,机器读取基板上条码(SBTID),操作系统记录该基板条码(SBTID),然后根据机器从晶圆(Wafer)上抓取的芯片(Die),操作系统记录该颗芯片(Die)在晶圆(Wafer)上的位置坐标P(X,Y),以及贴在基板(Substrate)上的位置坐标D(X,Y)并建立以基板条码(SBTID)为单位的批次(Lot),晶圆(Wafer),芯片在在晶圆(Wafer)上的位置坐标P(X,Y)和在基板(Substrate)上的位置坐标D(X,Y)的关系DieMap;

5):在生产工序流程的盖印打标工序(Marking)工站,读取基板条码(SBTID)向操作系统请求该条基板的DieMap信息,同时操作系统按该DieMap为每颗芯片分配之前操作系统保存的唯一识别码提供给盖印打标机器将识别码盖印到每颗芯片上,操作系统按基板条码(SBTID)为单位记录批次(Lot),晶圆(Wafer),芯片在晶圆(Wafer)上的位置坐标P(X,Y),在基板(Substrate)上的位置坐标D(X,Y)和每颗芯片(Die)的唯一识别码信息的关联关系;

6):操作系统建立每颗芯片(Die)来源于生产批次(Lot)和晶圆(Wafer),以及每颗芯片在晶圆(Wafer)上的位置和在生产过程经历的各道工序的时间,使用的机器,操作人员等信息,达到以芯片唯一识别码作为生产过程和后续的使用追踪功能。

本发明的有益效果是:为每颗芯片(Die)建立来源于生产批次(Lot)和晶圆(Wafer),以及每颗芯片在晶圆(Wafer)上的位置和在生产过程经历的各道工序的时间,使用的机器,操作人员等信息,达到以芯片唯一识别码作为生产过程和后续的使用追踪功能。

附图说明

图1是现有技术的内存芯片生产流程示意图。

图2是本发明的内存芯片生产流程示意图。

图3是本发明的基板条码打印流程图。

图4是本发明的贴芯片生产流程示意图。

图5是本发明的盖印打标生产流程示意图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沛顿科技(深圳)有限公司,未经沛顿科技(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610010601.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top