[发明专利]磁场测量仪分辨率的检测方法和装置

权利要求书

1.一种磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

将基准仪和被检测仪连接到一个同步数据采集卡上，其中，所述基准仪的分辨率高于所述被检测仪的分辨率；

通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号，其中，N为正整数；

根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成恒定磁场B_di，以确定时变成分的峰值B_r，其中，所述根据所述基准仪信号和所述被检测仪信号之间的相关性对所述基准仪信号和所述被检测仪信号进行归一化做差处理，生成所述恒定磁场B_di，以确定时变成分的峰值B_r，具体包括：

计算所述基准仪信号的平均绝对离差R₁和所述被检测仪信号的平均绝对离差R₂；

计算按照所述基准仪信号的平均绝对离差R₁与所述被检测仪信号的平均绝对离差R₂的比值缩放的第i个所述被检测仪的输出信号B'_2i，其中，i为小于或等于所述N的正整数；

计算所述恒定磁场B_di；

根据所述恒定磁场B_di确定所述时变成分的峰值B_r；

判断所述时变成分的峰值B_r是否小于所述被检测仪标称的分辨率，若所述时变成分的峰值B_r小于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率能达到其标称值。

2.如权利要求1所述的磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，所述通过所述同步数据采集卡同步采集所述基准仪的N个基准仪信号和所述被检测仪的N个被检测仪信号之后，还包括：

获取所述基准仪和所述被检测仪在预设时间段内的，所述基准仪的N个基准仪信号的平均值S₁和所述被检测仪的N个被检测仪信号的平均值S₂。

3.如权利要求1或2所述的磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，还包括：

若所述时变成分的峰值B_r大于或者等于所述被检测仪标称的分辨率，则判断所述被检测仪的分辨率不能达到其标称值。

4.如权利要求2所述的磁场测量仪分辨率的检测方法，其特征在于，通过以下公式计算所述基准仪或所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差：

其中，j＝1,2分别对应所述基准仪和所述被检测仪的输出信号的平均绝对离差，i为小于或等于所述N的正整数，B_ji为第i个所述基准仪或所述被检测仪的输出信号；

通过以下公式对所述输出信号的归一化做差处理：

B'_2i＝S₂+(B_2i-S₂)R₁/R₂，

B_di＝B'_2i-B_1i，

其中，B'_2i为按照所述基准仪信号的平均绝对离差R₁与所述被检测仪信号的平均绝对离差R₂的比值缩放的，第i个所述被检测仪的输出信号，所述B_2i为第i个所述被检测仪的输出信号，B_di为第i个恒定磁场，B_1i为第i个所述基准仪的输出信号。