[发明专利]X射线应力分析设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种应力分析设备，尤其是一种X射线应力分析设备。

背景技术

现在所有的X射线应力测试设备都必须有两种运动机构：(1)通过机械扫描测定衍射角2θ的机构；(2)改变Ψ角的机构。测试过程都是在若干个不同的Ψ角分别测定衍射角2θ，然后计算应力。

发明内容

本发明提供了一种结构简单、操作方便的X射线应力分析设备。

实现本发明目的的X射线应力分析设备，包括机壳，位于机壳内的X射线管、左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器；所述机壳通过微调升降机构安装在多段式万向支架上；所述X射线管通过内部支架安装在机壳内，所述左线阵探测器、右线阵探测器、左激光器和右激光器分别通过内部支架安装在机壳内；所述左线阵探测器和左激光器位于X射线管的左侧，所述右线阵探测器和右激光器位于X射线管的右侧；

所述左线阵探测器和右线阵探测器的中心线与X射线管的入射线相交于应力测试点，所述左激光器和右激光器的激光束也相交于应力测试点；

所述机壳的平面与X射线管的入射线呈55°夹角。

本发明的X射线应力分析设备的有益效果如下：

本发明的X射线应力分析设备，结构简单、一个包含X射线管和两个线阵探测器的机壳即可实现，无需背景技术中所述的两种运动机构，只需将机壳的平面调整到与被测平面相平行，左、右两个线阵探测器直接采集数据，而后计算应力值，给出测试结果，操作方便。

附图说明

图1为本发明的X射线应力分析设备的结构示意图。

图2为图1的A-A剖视图。

图3为图1的B-B剖视图。

具体实施方式

如图1～3所示，本发明的X射线应力分析设备，包括机壳1，位于机壳1内的X射线管2、左线阵探测器3、右线阵探测器4、左激光器5和右激光器6；所述机壳1通过微调升降机构12安装在多段式万向支架上；所述X射线管2通过内部支架安装在机壳1内，所述左线阵探测器2、右线阵探测器3、左激光器4和右激光器5分别通过内部支架安装在机壳1内；所述左线阵探测器3和左激光器5位于X射线管2的左侧，所述右线阵探测器4和右激光器6位于X射线管2的右侧；

所述左线阵探测器3和右线阵探测器4的中心线9、11与X射线管2的入射线7相交于应力测试点S，所述左激光器5和右激光器6的激光束8、10也相交于应力测试点S；

所述机壳1的平面与X射线管2的入射线7呈55°夹角。

以一个X射线管和两个线阵探测器为核心器件，通过必要的内部支架及外壳组合而成为本发明的设备。两个探测器的中心线和与入射线夹角分别设为2η，夹角顶点为S。壳体内还安装左右两个激光器，两束激光交汇于S点。另外配以微调升降机构和多段式万向支架，即可用于应力测试。只需使用两束激光对准测试点S，调整宝盒外壳参照平面(见下图)使之平行于试样测试面，开机后没有测量动作，采集数据几秒至十几秒即可完成测试。

这里2η依据不同待测材料和X射线管的靶材确定。

上面所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神前提下，本领域普通工程技术人员对本发明技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本发明的权利要求书确定的保护范围内。