[发明专利]原棉轧工表观质量的数字化检验方法有效
申请号: | 201610003763.0 | 申请日: | 2016-01-04 |
公开(公告)号: | CN105678759B | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 关德威 | 申请(专利权)人: | 上海信洁照明科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 上海唯源专利代理有限公司 31229 | 代理人: | 曾耀先 |
地址: | 201203 上海市浦东新区自由*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 原棉 表观 质量 数字化 检验 方法 | ||
1.一种原棉轧工表观质量的数字化检验方法,其特征在于,包括以下步骤:
第一步:建立标准棉花样品的数字化模型;
第二步:提取待检测棉花的数字化信息;
第三步:将提取的待检测棉花数字化信息和标准棉花样品的数字化模型进行对比分级;
所述第一步中,还包括下述分步骤:
A)数字图像信息获取及图像/数字的转换;
B)数字图像的特征提取;
C)建模;
其中,所述分步骤A)还包括:求取平均亮度作为像素亮度归一化的参照指标,将原始的像素亮度阵列归一化;
对归一化的原始像素亮度阵列中每行的像素值求平均,再逐行进行亮度值的二次归一化处理,然后再对每列像素值同样逐列进行二次归一化处理,重新构成了新的二次归一化的像素阵列,以此消除照明条件的方位性影响;
所述分步骤B)还包括:设定亮度下限值作为区分杂质籽屑的阈值,以低于阈值的像素比例代表杂质所占的总量,就可以得出杂质籽屑的像素比K1代表杂质籽屑的数字集群数量;
在归一的数字阵列中,用平均亮度替换归一的数字阵列中所有数值分别低于阈值的像素以清除图像中的杂质籽屑影响,构成清洁的像素亮度阵列,然后统计该阵列像素的亮度百分离散值K2,作为标准棉花样品均匀性指标;
对清洁的像素亮度阵列逐行逐列进行DFT变换,得到m+n个空间频谱,对所有频谱求平均值,取得数字图像的一维空间频率分布,采 用高低频成分比K3反映标准棉花样品的纤维纠结或人为折叠的尺度特征;
所述分步骤C)还包括:对K1,K2,K3进行计权处理,得出综合统计值J,并得出K1,K2,K3的分项极限值;
建立K1,K2,K3,J和原棉轧工表观质量等级之间的关联关系。
2.如权利要求1所述的原棉轧工表观质量的数字化检验方法,其特征在于,所述第二步:提取待检测棉花的数字化信息,还包括如下分步骤:
2A)数字图像信息获取及图像/数字的转换;
2B)数字图像的特征提取。
3.如权利要求1所述的原棉轧工表观质量的数字化检验方法,其特征在于,所述标准棉花样品的数字化模型固化在处理芯片中,图像数字转换装置的输出通过数码信息连接线输入到处理芯片,经过处理芯片的计算后,原棉轧工表观质量的分级结果即可输出,输出显示的内容包含K1,K2,K3和J值、分级结果。
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