[发明专利]质谱分析装置有效

专利信息
申请号: 201580085349.2 申请日: 2015-10-15
公开(公告)号: CN108369209B 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 山本善丈;山本英树 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/72;G01N27/64
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 谱分析 装置
【说明书】:

基于通过常规的质谱分析得到的质谱计算基于总离子电流信号等的信号强度,若该信号强度超过强度阈值,则根据该信号强度和过去最近的信号强度估计色谱峰的开始时间T0。然后,将基于根据LC分离条件估计出的峰半值宽度求出的延迟时间Tdelay加上开始时间T0来计算MS2执行允许开始时间Ts,在实际的时间过了Ts的时刻以后,在通过质谱分析得到的质谱中选择满足前体离子选择条件的峰。立即执行以与选择出的峰相对应的m/z为目标的MS2分析,获取MS2谱。通过适当决定延迟时间Tdelay,能够在目标成分的浓度变得充分高的时刻获取与该成分有关的灵敏度高的MS2谱,成分的鉴定和结构解析的准确性提高。

技术领域

本发明涉及通过碰撞诱导解离(CID=Collision-Induced Dissociation)等使源自试样成分的具有特定的质荷比m/z的离子解离来进行由此生成的产物离子(碎片离子)的质谱分析的质谱分析装置。本发明的质谱分析装置特别适于使用质谱分析装置作为液相色谱仪(LC)或气相色谱仪(GC)的检测器的色谱质谱联用仪。

背景技术

为了对分子量大的化合物进行鉴定或解析其化学结构,作为质谱分析的一个方法的MS/MS分析或MSn分析是有用的手法,近年来广泛用于各种领域中。作为进行MS/MS分析的质谱分析装置而公知的有:隔着进行CID的碰撞室而在其前后配置有四极滤质器的三重四极杆质谱分析装置。另外,关于在三重四极杆质谱分析装置中将后级的四极滤质器替换为飞行时间型质谱分析器而成的Q-TOF型质谱分析装置,虽然与三重四极杆质谱分析装置相比结构复杂且价格高,但是能够获取精度更高的质谱。在这些质谱分析装置中,能够进行n为2的MSn分析,但还能够在将能够保持离子的离子阱与飞行时间型质谱分析装置组合而成的离子阱飞行时间型质谱分析装置等中,通过在离子阱中使具有特定质荷比的离子以多个阶段进行解离,来进行n为3以上的MSn分析。以下的说明中,将能够进行n为2以上的MSn分析的质谱分析装置简称为质谱分析装置。

在这种质谱分析装置中例如想要针对目标成分获取MS2谱的情况下,通常需要事先设定作为目标的前体离子的质荷比来作为测定条件。然而,分析含有成分未知的试样时,无法预先设定前体离子的质荷比。另一方面,已知搭载有如下功能的质谱分析装置:在通过常规的质谱分析得到的质谱中,判定是否存在符合由分析员预先设定的前体离子选择条件的峰,存在符合该条件的峰的情况下,自动且实时地进行以与该峰相对应的离子为前体离子的MS2分析。这种功能被称为数据依赖性解析(DDA=Data Dependent Acquisition)或自动MSn分析等(参照专利文献1、2),而在本说明书中称为DDA。

作为DDA中的前体离子选择条件,大多使用信号强度的下限阈值。此时,在通过质谱分析得到的质谱中检测到信号强度为预先设定的下限阈值以上的峰时,执行以与该峰相对应的离子为前体离子的MS2分析。其中,此时,当存在源自例如试样溶剂等存在量多的杂质的离子时,存在实施以该离子为前体离子的无意义的MS2分析的担心。于是,在专利文献2中记载的装置中,判定在质谱中出现的峰的信号强度是否落入由分析员设定的下限值与上限值所决定的范围,执行以与信号强度落入该范围的峰相对应的离子为前体离子的MS2分析。此时,通过适当设定信号强度的上限值,能够避开不需要MS2分析的高信号强度的成分而优先进行浓度较低的成分的MS2分析。

然而,在使用这种质谱分析装置作为液相色谱仪(LC)或气相色谱仪(GC)的检测器的LC-MS或GC-MS中,当进行上述那样的前体离子选择时存在如下的问题。

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