[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及程序在审

专利信息
申请号: 201580083713.1 申请日: 2015-10-22
公开(公告)号: CN108141573A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 丸山裕辉;市川学 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: H04N9/07 分类号: H04N9/07
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟;于英慧
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 关注像素 像素 图像处理装置 校正系数 校正 校正量计算部 外部接口部 图像处理 校正量 获取图像数据 像素值校正部 分光灵敏度 程序提供 摄像元件 摄像装置 同色像素 滤色镜
【说明书】:

提供能够对构成摄像元件的多个像素各自的分光灵敏度的偏差进行校正的图像处理装置、图像处理方法以及程序。图像处理装置(40)具有:第二外部接口部(41),其从摄像装置(10)获取图像数据和校正系数;校正量计算部(441),其使用关注像素周围的颜色与关注像素的滤色镜的颜色相同的周边同色像素的像素值和第二外部接口部(41)所获取的校正系数,来计算关注像素处的校正对象的颜色成分的估计值,并根据该估计值和关注像素的校正系数来计算关注像素的像素值的校正量;以及像素值校正部(442),其根据校正量计算部(441)所计算出的校正量来校正关注像素的像素值。

技术领域

本发明涉及对构成摄像元件的多个像素中分别设置的滤色器的分光灵敏度特性进行校正的图像处理装置、图像处理方法以及程序。

背景技术

以往,在数字照相机等摄像装置中,公知有如下的技术:按每个摄像元件对设置在CCD(Charge Coupled Device:电荷耦合器件)或CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor:互补金属氧化物半导体)等摄像元件的受光面上的滤色器的分光透射率的偏差导致的像素分光灵敏度的偏差进行调整(参照专利文献1)。在该技术中,通过摄像元件对光谱被棱镜分光后的可见光进行光电转换,从而根据由R(红)、G(绿)以及B(蓝)各个颜色成分的组合构成的图像数据,按波长计算R、G以及B各自的值,并以使该计算出的R、G以及B的值与预先按波长计算出的基准值的差分分别变小的方式,计算出与R、G以及B各自的值相乘的校正系数,然后通过使用该校正系数来校正每个摄像元件的分光灵敏度的偏差。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2010-193378号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而,在上述的专利文献1中,具有如下的问题点:由于未按每个像素进行分光灵敏度的校正,因此无法对每个像素的分光灵敏度的偏差进行校正。

本发明就是鉴于上述问题点而完成的,其目的在于提供图像处理装置、图像处理方法以及程序,能够对构成摄像元件的多个像素各自的分光灵敏度的偏差进行校正。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题并达成目的,本发明的图像处理装置的特征在于,该图像处理装置具有获取部,其获取摄像元件所生成的图像数据,并且从记录部获取校正系数,该摄像元件使用具有相互不同的分光透射率的多种颜色的滤色器来形成规定的排列图案,并且各个滤色器被配置在与多个像素中的任意像素对应的位置上,该记录部按每个像素记录所述校正系数,该校正系数用于校正关注像素处的与分光灵敏度和预先设定的基准分光灵敏度在规定波长区域中的差对应的像素值差分;校正量计算部,其使用周边同色像素中的各像素的像素值和所述校正系数来计算所述关注像素处的校正对象颜色成分的估计值,并根据该估计值和所述关注像素的所述校正系数来计算所述关注像素的像素值的校正量,其中所述周边同色像素是所述关注像素的周边的像素,配置有颜色与配置于所述关注像素的滤色器的颜色相同的滤色器;以及像素值校正部,其根据所述校正量计算部所计算出的所述校正量来校正所述关注像素的像素值。

另外,本发明的图像处理装置的特征在于,在上述发明中,所述校正量计算部根据所述周边同色像素的像素值的理论值和所述周边同色像素的像素值的实测值来计算相似度,并将相似度高的候选值计算为所述估计值,其中,所述周边同色像素的像素值的理论值是基于所述候选值和所述周边同色像素中的各像素的所述校正系数而计算出的。

另外,本发明的图像处理装置的特征在于,在上述发明中,所述理论值是所述候选值与所述周边同色像素中的各像素的所述校正系数之积。

另外,本发明的图像处理装置的特征在于,在上述发明中,所述相似度是基于所述周边同色像素中的各像素的所述理论值与所述实测值之差的值。

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