[发明专利]目标成分定位和排出

说明书

流体离开通路处于沿着微流体通道的位置。流体移位装置接近沿着微流体通道的该位置。成分定位器区分微流体通道内的流体中的目标成分与剩余的非目标成分，并将目标成分定位成接近流体离开通路。在目标成分接近流体离开通路时，控制器选择性致动流体移位装置，以使目标成分从微流体通道通过流体离开通路排出。

技术领域

包括复杂混合物的流体样本有时被分离成组分以用于分析。分离组分可包括独特种类的小的或大的有机、无机、挥发性或非挥发性成分。未稀释的分离成分的分离和回收提出了大的挑战。

附图说明

图1是示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图2是用于定位和排出流体组分的示例性方法的流程图。

图3是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图4是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图5是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图6是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图7是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图8是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图9是另一示例性目标成分定位和排出系统的示意图。

图10是另一示例性目标成分定位和排出系统的横截面视图。

图11是图10的系统的顶视图。

图12是另一示例性目标成分定位和排出系统的横截面视图。

图13是图12的系统的顶视图。

图14是说明另一示例性目标成分定位和排出系统排出流体组分至示例性接收体的横截面视图。

图15是另一示例性目标成分定位和排出系统的横截面视图。

图16是图15的系统的顶视图。

具体实施方式

图1示意性示出示例性目标成分定位和排出系统20。系统20识别具有目标成分的在微流体通道内的流体的组分，并从微流体通道通过离开通路选择性排出带有目标成分的识别组分。系统20包括基底22、微流体通道24、流体离开通路30、流体移位装置40、成分定位器50和控制器60。

基底22包括芯片、晶片、平台或其他结构，系统20的至少一个部件被支撑在其上或者其中。在一个实施中，基底22是与晶片隔绝的芯片的一部分。在一个实施中，基底22用作用于电路的机械支撑。在一个实施中，基底22包括单晶硅，其部分被选择性掺杂质以形成电路或基底22的部件。在其他实施中，基底22可以用其他材料形成。

微流体通道24包括在基底26内或者基底26上形成的通路。微流体通道24具有宽度和高度，其各自是亚毫米量级。在一个实施中，微流体通道24具有宽度和高度，各自具有在5μm和200μm之间且名义上在5μm和50μm之间的尺寸。尽管示出为是线性的，但是微流体通道24可以具有弯曲、蜿蜒、分支或其他形状。

流体离开通路30包括从通道24延伸的通路，在通道24内的流体可以排出或移动通过该通路。在一个实施中，流体离开通路30包括开口或喷嘴，流体液滴或者多个流体液滴通过其从通道24喷出到储存器或储存器阵列中或到分析基底上。分析基底的一个示例是表面增强拉曼光谱学(SERS)基底的纳米丝表面。在一个实施中，喷嘴成形为匹配或对应于待喷射的流体组分的预期形状。例如，在一个实施中，喷嘴可以具有正方形或矩形形状。