[发明专利]用于确定制造的光学器件的质量的系统和方法

说明书

用于评估制造的光学器件的功率分布和所制造的光学器件的功率分布所基于的标称功率分布之间的相似度的方法。该方法包括测量制造的光学器件的功率分布；从制造的光学器件的测量的功率分布中确认相关区域；以及对所测量的功率分布施加偏移量，以使统计量词实质上最小化，从而量化该标称功率分布和偏移的测量的功率分布之间的相似度。该方法进一步包括将该偏移量和该统计量词与预定的质量控制度量进行比较；至少部分地基于该比较来确定所测量的功率分布是否满足该预定的质量控制度量。在示例性实施方式中，该方法可以进一步包括：如果所测量的功率分布没有满足该预定的质量控制度量，则确定是否将所制造的光学器件与另一标称功率分布相关联。

相关申请的交叉引用

本申请要求2014年11月11日提交的美国临时申请号62/078,310的优先权。本申请的全部内容通过引用并入本文。

本申请还涉及2013年10月4日提交的美国申请号14/046,356；2013 年4月5日提交的美国申请号13/857,613；2013年4月5日提交的国际申请号PCT/AU2013/000354；2013年4月5日提交的澳大利亚申请号2013202664；以及2012年10月17日提交的澳大利亚申请号2012904541。这些申请中每一个的全部内容通过引用并入本文。

技术领域

本披露涉及用于确定制造的光学器件上功率分布和/或表面轮廓的质量的系统和方法。此外，本披露还涉及通过使用制造的光学器件的参数描述符来分析和比较所制造的光学器件的复杂功率分布和/或复杂表面轮廓与标称功率分布和/或标称表面轮廓，而确定所制造的光学器件上的该功率分布和/或表面轮廓的质量。

发明背景

通常，制造的光学器件(如隐形眼镜)的功率分布已经相对简单。例如，该功率分布可以是球面或线性函数。在这种情况下，制造技术能够在制造的器件中复制所期望的(标称)功率分布。由于该功率分布相对简单，有时并不需要测试所制造的器件来确定该器件的功率分布是否与该标称功率分布足够接近。

如果需要进行测试，要确定所制造的光学器件是否与该标称功率分布足够接近通常也是很简单的。例如，该测试可以包括使用焦度计对光学功率进行验证。

然而，功率分布正变得愈加复杂。例如，较复杂的功率分布可以包括变化增加、多个峰值、多级(例如，初级、二级和三级)球面像差模式。具有这些较复杂特征的光学器件的制造可能更复杂，这使得对该器件的测试更加相关。然而，用于具有较简单功率分布的光学器件的简单测试程序对于具有较复杂功率分布的光学器件来说，可能是不可接受的。用于相对简单的光学器件的典型测试程序包括选择几个光学器件并离线测试，以确保该批次产品是可接受的。这些程序还可以包括在特定制造运行期间对光学器件进行采样，并离线测试所采样的产品，以确保该器件的质量不会生变。对于较复杂的功率分布，这些程序可能是不可接受的。此外，通常用于制造光学器件的高速生产线使得该光学器件的实时测试更难了。

因此，人们期望有这样的系统和方法，其能够确定这些制造的功率分布较复杂的光学器件的质量。在示例性实施方式中，可能期望基本上实时地和/或在高速生产线上进行质量确定。如将在本文的讨论中变得显而易见的，本披露旨在克服和/或改善现有技术的至少一个或多个缺点。如本文所讨论的，本披露还提供了其他优点和/或改进。

发明概述