[发明专利]手持式光谱仪的附件在审
申请号: | 201580070663.3 | 申请日: | 2015-10-22 |
公开(公告)号: | CN107250739A | 公开(公告)日: | 2017-10-13 |
发明(设计)人: | 达米安·戈德林;德罗尔·莎伦;盖伊·博罗德茨基;萨基·罗森;欧麦·凯伊拉夫;尤里·金洛特;伊泰·尼尔;尼特赞·外斯伯格;奥弗·拉赫曼;阿萨夫·卡麦 | 申请(专利权)人: | 威利食品有限公司 |
主分类号: | G01J3/00 | 分类号: | G01J3/00;G01J3/06;G01J3/10 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人: | 郑霞 |
地址: | 以色列*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 手持 光谱仪 附件 | ||
1.一种用于手持式光谱仪的盖,该盖包括:
开口和内部,其大小和形状被配置为接收包括光源和传感器阵列的手持式光谱仪;以及
校准材料,其被耦合到盖的内表面;
其中,所述盖和所述手持式光谱仪被配置用于校准所述手持式光谱仪并用耦合到所述盖的所述手持式光谱仪来测量样品材料。
2.如权利要求1所述的盖,其中,所述盖被配置用于在所述光源和所述传感器阵列耦合到所述校准材料的校准配置中耦合到所述手持式光谱仪,并且其中,所述盖被配置用于在所述光源和所述传感器阵列耦合到所述样品材料的测量配置中耦合到所述手持式光谱仪。
3.如权利要求2所述的盖,其中,所述盖还包括封闭端,并且所述校准材料耦合到所述封闭端附近的所述内表面。
4.如权利要求3所述的盖,其中,在所述校准配置中,在所述光源和所述传感器阵列面向所述盖的所述封闭端的情况下,所述手持式光谱仪被接收在所述盖内,并且其中,在所述测量配置中,在所述光源和所述传感器阵列面向所述盖的所述开口的情况下,所述手持式光谱仪被接收在所述盖内。
5.如权利要求1所述的盖,还包括支撑件,其被耦合到所述校准材料和所述盖,并被配置用于当所述盖耦合到所述手持式光谱仪以校准所述手持式光谱仪时,将所述校准材料放置于与所述光源和所述传感器阵列的预定校准距离处。
6.如权利要求1所述的盖,其中,所述盖包括非光学透射材料,其被配置用于当所述盖耦合到所述手持式光谱仪以校准所述手持式光谱仪时抑制来自环境光的干扰。
7.如权利要求1所述的盖,其中,所述盖还包括用以允许接入被接收在所述盖内的所述手持式光谱仪的一个或多个特征的一个或多个开口。
8.如权利要求1所述的盖,其中,所述校准材料包括反射材料。
9.如权利要求8所述的盖,其中,所述反射材料包括漫反射器。
10.如权利要求8所述的盖,其中,所述反射材料包括镜面反射器。
11.如权利要求8所述的盖,其中,所述反射材料包括基本上恒定的反射率。
12.如权利要求11所述的盖,其中,所述基本上恒定的反射率包括针对恒定波长被固定到约1%内的反射率。
13.如权利要求11所述的盖,其中,所述基本上恒定的反射率包括针对一定波长范围被固定到1%内的反射率,其中,所述范围包括至少约250nm。
14.如权利要求11所述的盖,其中,所述基本上恒定的反射率包括在一定的波长范围内包括可变量的反射率。
15.如权利要求14所述的盖,其中,可变反射率的量在约250nm的范围内包括不超过约10%。
16.如权利要求1所述的盖,还包括一个或多个卡合结构,其被耦合到所述盖并被配置用于当所述盖耦合到所述手持式光谱仪时可移除地卡合所述手持式光谱仪的一个或多个相应卡合结构。
17.如权利要求16所述的盖,其中,所述一个或多个卡合结构包括突出部、轮缘、凸缘、凹部或磁体中的一个或多个。
18.如权利要求16所述的盖,其中,所述一个或多个卡合结构包括用以将所述手持式光谱仪相对于盖以预定定向进行定位的一个或多个不对称卡合结构。
19.如权利要求1所述的盖,其中,所述盖包括第二开口和滑块,所述滑块包括所述校准材料以便覆盖所述第二开口以用于校准并揭开所述第二开口以用于样品测量。
20.如权利要求19所述的盖,其中,所述滑块包括耦合到引导件的面板,该面板包括或者耦合到所述校准材料以便用该面板使所述校准材料在所述第二开口之上滑动。
21.一种手持式光谱仪装置,包括:
手持式光谱仪,其包括光源和传感器阵列;以及
如权利要求1所述的盖。
22.如权利要求21所述的手持式光谱仪装置,其中,所述盖和所述手持式光谱仪被配置用于在所述光源和所述传感器阵列耦合到所述校准材料的情况下校准所述手持式光谱仪,使得从所述光源发出的光照明所述校准材料,并且从所述校准材料反射的光被所述传感器阵列检测。
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