[发明专利]制造具有类似于公差叠加的尺寸要求的零部件的方法

权利要求书

1.一种制造零部件的方法，所述零部件利用制造装置生产，其中，每个零部件必须满足关于所述零部件的具体尺寸的总体尺寸要求，所述总体尺寸要求类似于公差叠加，所述公差叠加包括至少两个尺寸，每个尺寸对应于所述零部件的特征尺寸，其中：

-所述总体尺寸要求是固定的，以便所述零部件的所述具体尺寸具有在由一个或多个统计标准构建的总体接受域中的平均值μ_G和标准偏差σ_G；

-从包括所述公差叠加的所述特征尺寸之中选择参考尺寸，并且从零部件的样品计算得出所述参考尺寸的平均值μ_ref和标准偏差σ_ref，所述零部件的样品从利用所述制造装置生产的零部件之中获取；

-从所述总体接受域并且从为所述参考尺寸而计算得出的所述平均值μ_ref和所述标准偏差σ_ref计算得出用于所述公差叠加的其他特征尺寸的接受域，所述接受域利用所述统计标准或者与所述总体接受域相同的统计标准来构建；

-在没有核实所述参考尺寸的情况下，通过利用为所述公差叠加的所述其他特征尺寸而计算得出的所述接受域来控制零部件的制造，通过调整所述制造装置的调控参数，以便所述公差叠加的所述其他特征尺寸中的每一个被包括在相应的计算得出的接受域中。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述零部件的制造通过执行以下用于所获取的零部件的每个样品的接连步骤而被控制：

-测量关于所述样品中的每个零部件的除了所述参考尺寸之外的其他特征尺寸；

-计算关于其他所测量的特征尺寸中的每一个的平均值μ_i和标准偏差σ_i；

-调整所述制造装置的所述调控参数，以便所述公差叠加的所述其他特征尺寸中的每一个具有在相应的计算得出的接受域中的平均值μ_i和标准偏差σ_i。

3.根据权利要求1或2中的任一项所述的方法，其中，所述公差叠加的所述其他特征尺寸的所述接受域是从形成用于所述具体尺寸的所述总体接受域的平均值的极限值μ_GL和标准偏差的极限值σ_GL并且从为所述参考尺寸而计算得出的所述平均值μ_ref和所述标准偏差σ_ref计算得出的。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述公差叠加的所述其他特征尺寸的所述接受域通过采用μ_i＝μ_GL-μ_ref和来计算得出，其中μ_i和σ_i分别为相应的特征尺寸的平均值和标准偏差。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述公差叠加的所述其他特征尺寸的所述接受域的极限通过为所使用的一个或多个统计标准采取最严格的数值极限来计算得出。

6.根据权利要求1或2中的任一项所述的方法，其中，不同的接受域被示出在控制图形(μ；σ)中，所述控制图形以所述特征尺寸的平均值μ作为横坐标并且以所述特征尺寸的标准偏差σ作为纵坐标，并且所述不同的接受域根据用于所述总体尺寸要求的一个或多个统计标准的极限来构建。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述公差叠加的所述其他特征尺寸的所述接受域根据以下接连的步骤被图形化地构建：

-根据为所述参考尺寸而计算得出的平均值μ_ref和标准偏差σ_ref对所述控制图形(μ；σ)中的总体接受域施加变换；

-通过为所使用的一个或多个统计标准采取最严格的数值极限来外推得出为构建所述公差叠加的所述其他特征尺寸的施加域而变换的总体施加域。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，所述控制图形(μ；σ)被显示在控制监视器上。