[发明专利]DR检测器以及操作其的方法

权利要求书

1.一种操作DR检测器的方法，所述方法包括：

在所述检测器中捕获图像帧，包括在所述检测器中捕获至少一个暗图像帧以及将暗图像帧存储在所述检测器中；

检测撞击所述检测器的x射线束，其中所述检测x射线束的步骤包括：

将用于当前捕获图像帧中的像素子集的统计度量与所存储的暗图像帧中的像素子集的相同统计度量进行比较；以及

响应于所述比较步骤，确定所述当前捕获图像帧是x射线曝光图像帧；

在所述检测x射线束的步骤之后，在所述检测器中捕获至少再一个图像帧；

将所述当前捕获图像帧和所述至少再一个图像帧相加；以及

减去所存储的暗图像帧，以形成曝光图像帧。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述比较步骤包括确定是否超过所述像素子集之间的像素强度差阈。

3.如权利要求2所述的方法，其还包括：选择由连续像素列的相同子集和连续像素行的相同子集组成的所述像素子集；以及存储用于每个像素子集的至少一个统计度量。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述捕获图像帧的步骤还包括在所述检测器中捕获多个暗图像帧，并且所述存储暗图像帧的步骤包括计算并存储所述多个捕获暗图像帧的平均值。

5.如权利要求4所述的方法，其中所述比较步骤还包括将用于所述当前捕获图像帧中的所述像素子集中的每一行的统计度量与用于所存储的暗图像帧中的所述像素子集中的相同行的统计度量进行比较。

6.如权利要求3所述的方法，其中所述比较步骤还包括将所述当前捕获图像帧中的所述像素子集中的每一行的平均强度与所存储的暗图像帧中的所述像素子集中的相同行的平均强度进行比较。

7.如权利要求3所述的方法，其中所述比较步骤还包括将所述当前捕获图像帧中的所述像素子集的平均强度与所存储的暗图像帧中的所述像素子集的平均强度进行比较。

8.如权利要求6所述的方法，其中所述比较步骤还包括将用于所述当前捕获图像帧中的所述像素子集的统计度量阵列的一部分或全部与阈值进行比较，以形成所述当前捕获图像的所述像素子集的相同部分或全部的另一统计度量阵列。

9.如权利要求3所述的方法，其中所述捕获图像帧的步骤还包括以所述检测器的帧速率捕获连续的图像帧序列。

10.如权利要求9所述的方法，其还包括在积分周期期间对x射线束进行积分以及在读出周期期间读出所述积分的x射线束，其中所述积分周期和所述读出周期确定所述帧速率。

11.一种操作DR检测器的方法，所述方法包括：

在所述检测器中捕获图像帧，包括在所述检测器中捕获至少一个暗图像帧以及将平均暗图像帧存储在所述检测器中；

检测撞击所述检测器的x射线束，其中所述检测x射线束的步骤包括：

将用于当前捕获图像帧中的像素子集的统计度量与用于所存储的暗图像帧中的像素子集的相同统计度量进行比较；以及

响应于所述比较步骤，确定所述当前捕获图像帧是包含曝光信息的x射线曝光图像帧；

在所述检测所述x射线束的步骤之后，在所述检测器中连续地捕获具有曝光信息的图像帧；

检测包含曝光信息的最终图像帧，所述检测所述最终图像帧的步骤包括：

将当前捕获图像帧中的像素子集的强度与紧接在前的捕获暗图像帧中的相同像素子集的强度进行比较；以及

响应于确定所述像素子集之间的强度差值低于预先确定的阈值，进一步确定所述当前捕获图像帧是所述包含曝光信息的最终图像帧；以及

将包含曝光信息的所有图像帧相加；以及

通过减去所述平均暗图像帧来暗校正所述相加的图像帧以形成曝光图像帧。

12.如权利要求11所述的方法，其还包括计算先前平均暗图像帧和当前暗图像帧的加权平均值以确定所述平均暗图像帧。