[发明专利]反应性近场天线测量

权利要求书

1.一种校准扫描器的方法，所述扫描器包括被电子切换以从AUT捕获近场数据的集成的测量探针的扫描器板阵列，并且具有板输出，所述方法包括以下步骤：

(a)将校准探针与所述测量探针中的一个测量探针耦接；

(b)测量通过所述测量探针和所述校准探针的功率，并通过消除所述校准探针的影响来隔离从所述测量探针到所述板输出的RF路径的影响；

(c)对于每个测量探针重复步骤(a)和(b)；

(d)创建针对阵列的校准文件，其包括针对每个测量探针RF路径的校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量探针包括具有RF振幅输出的H场半环探针；通过测量通过环路和利用矢量网络分析仪耦合到所述环路的校准探针的功率，从所述扫描器板的传导RF振幅输出来估计每个环路内的H场强度。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述校准探针与所述测量探针相同。

4.一种校正扫描器的输出的方法，所述扫描器包括集成的测量探针的扫描器板阵列，所述测量探针被电子切换以捕获来自AUT的近场数据以考虑扫描器的散射效应，其中通过比较实际从扫描器获得的H场分布测量结果与从软件模拟获得的结果来计算所述校正。

5.根据权利要求4所述的方法，还包括以下步骤：将使用近场到远场变换所估计的总辐射功率(TRP)校正为在消声室的标准测量中实际测量的值。

6.根据权利要求4或5所述的方法，还包括权利要求1的校准步骤。

7.一种校正扫描器的输出的方法，所述扫描器包括集成的测量探针的扫描器板阵列，所述测量探针被电子切换以捕获来自AUT的近场数据，以考虑测量探针对AUT的负载效应，其中通过比较从扫描器实际获得的测量结果与电波暗室中经验测试获得的结果来计算所述校正。

8.根据权利要求7所述的方法，还包括权利要求1的校准步骤。

9.根据权利要求7或8所述的方法，还包括权利要求5或6所述的校正步骤。

10.一种天线测量设备，包括被电子切换以捕获在AUT附近的近场数据的集成探针阵列，其中所述设备包括处理器，该处理器适于使用远场变换方法将近场数据变换为远场，并且实现权利要求1至10中任一项所述的校准或校正步骤。