[发明专利]源-检测器布置结构

权利要求书

1.用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源-检测器布置结构(11)，所述源-检测器布置结构包括：

X射线源(12)，所述X射线源适于相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转移动并且适于发射呈线条图案(21)的相干或准相干辐射的X射线束；以及

X射线检测系统(16)，所述X射线检测系统包括第一光栅元件(24)和第二光栅元件(26)以及检测器元件(6)；其中所述辐射的所述线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线；并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。

2.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述X射线源包括具有被布置成正交于所述旋转轴线的光栅方向的源光栅元件(22)。

3.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述X射线源(12)包括用来发射呈线条图案(21)的所述相干或准相干辐射的阳极(120)，所述阳极包括不同辐射发射的条带(121)，所述条带被布置成平行于所述第一光栅元件(24)的光栅线条和/或所述第二光栅元件(26)的光栅线条。

4.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述第一光栅节距和/或所述第二光栅节距沿所述X射线束的所述锥角(β)均匀地和/或逐渐地变化。

5.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述第一光栅节距和/或所述第二光栅节距沿所述X射线束的所述锥角(β)从较小的光栅节距变化至较大的光栅节距。

6.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述第一光栅元件(24)和/或所述第二光栅元件(26)适于能够相对于彼此移动以提供相位步进。

7.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述X射线源(12)包括旋转阳极(120)和位置传感器(40)以及束偏转单元(51)，所述位置传感器用于检测所述旋转阳极的靶区域上的电子束(50)的焦斑(123)的实际位置相对于预期位置的复现偏差，所述束偏转单元具有用于基于从所述位置传感器获得的测量结果来使所述束偏转的集成控制器。

8.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述X射线源(12)包括结构化电子束(52)，所述结构化电子束指向阳极以便发射呈线条图案的所述相干或准相干X射线束。

9.根据权利要求8所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述结构化电子束(52)适于能够以电磁方式移动以提供相位步进。

10.根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)，其中，所述X射线源(12)包括多个液态金属射流(124)，所述多个液态金属射流提供多个焦线(125)。

11.用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)，所述X射线设备包括根据权利要求1所述的源-检测器布置结构(11)。

12.用于使用用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源-检测器布置结构(11)生成并且检测X射线束的方法，所述方法包括：

使发射相干或准相干辐射的X射线源(12)相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转；

通过X射线检测系统(16)检测所述辐射，所述X射线检测系统包括第一光栅元件和第二光栅元件以及检测器元件；其中所述辐射的线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线；并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。