[发明专利]可调吸收的多层激光剥离结构在审
申请号: | 201580060177.3 | 申请日: | 2015-11-03 |
公开(公告)号: | CN107078023A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | P.安德里;J.格洛姆;C.K-I.曾;B.韦伯 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可调 吸收 多层 激光 剥离 结构 | ||
1.一种方法,包含:
提供激光装置,配置为发射选定波长的UV光;
获得结构,其包含装置晶片、附着于该装置晶片的黏着层、UV-透射操作体和该操作体与该黏着层之间且附着于该黏着层的烧蚀层,该烧蚀层在该选定波长具有介于0.1微米至0.2微米之间的光学穿透深度且具有为至少两个穿透深度的厚度,该黏着层在该选定波长具有介于2微米至20微米之间的光学穿透深度以及为至少一个穿透深度的厚度;
使该激光装置朝该结构发射该选定波长的UV光并烧蚀该烧蚀层;以及
使该操作体与该装置晶片分离。
2.如权利要求1或2所述的方法,其中该选定波长介于308nm与355nm之间。
3.如权利要求1或2所述的方法,其中该烧蚀层和该黏着层允许源自该激光装置的激光注量的2%或更少离开该黏着层。
4.如权利要求1或2或3所述的方法,其中该装置晶片包含硅,该方法还包含使用该装置晶片形成主动半导体装置的步骤和形成金属配线层于该装置晶片上的步骤。
5.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中该操作体本质由实质上对该选定波长为透明的玻璃材料组成。
6.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中该装置晶片包含钝化层和金属接触垫。
7.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中该黏着层包含吸收该选定波长的光的染料。
8.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中该黏着层包含悬浮于其中的纳米粒子,用于散射该选定波长的UV光。
9.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中该烧蚀层包含吸收该选定波长的光的染料。
10.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中该烧蚀层在该选定波长具有本征的光学吸收特性。
11.一种结构,包含:
装置晶片;
附着于该装置晶片的黏着层,该黏着层在308nm至355nm之间的选定波长具有介于2微米至20微米之间的光学穿透深度且具有为至少一个穿透深度的厚度;
UV-透射操作体;
介于该UV-透射操作体与该黏着层之间的烧蚀层,该烧蚀层在该选定波长具有介于0.1微米至0.2微米之间的光学穿透深度且具有为至少两个穿透深度的厚度,该烧蚀层在受到激光注量时将进一步发生分解。
12.如权利要求11所述的结构,其中该操作体本质由实质上对该选定波长为透明的玻璃材料组成。
13.如权利要求11或12所述的结构,其中该黏着层包含吸收该选定波长的光的染料。
14.如权利要求11或12或13所述的结构,其中该黏着层包含悬浮于其中的纳米粒子,用于散射该选定波长的UV光。
15.如权利要求11至14中任一项所述的结构,其中该黏着层在该选定波长具有本征光学吸收特性。
16.如权利要求11至15中任一项所述的结构,其中该烧蚀层在该选定波长具有本征光学吸收特性。
17.如权利要求11至16中任一项所述的方法,其中该烧蚀层包含有机平坦化层。
18.如权利要求11至17中任一项所述的结构,其中该烧蚀层包含吸收该选定波长的光的染料。
19.如权利要求11至18中任一项所述的结构,其中该烧蚀层具有小于0.5微米的厚度。
20.如权利要求11至19中任一项所述的结构,其中该烧蚀层的厚度介于在该选定波长的两个到四个穿透深度之间。
21.如权利要求11至20中任一项所述的结构,其中该黏着层的厚度介于在该选定波长的一个到两个穿透深度之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造