[发明专利]X射线检查装置在审

专利信息
申请号: 201580060141.5 申请日: 2015-10-05
公开(公告)号: CN107076685A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 栖原一浩 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/087;G01N23/18;G01T1/20
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 玉昌峰,纪秀凤
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线检查装置,其特征在于,具备:

X射线源,对检查对象的物品照射X射线;

检测部,检测预定能量带的X射线以及预定波长带的可见光线并生成信号;

图像创建部,基于所述检测部生成的信号而创建图像;以及

检查部,基于所述图像创建部创建的图像而进行所述物品的检查,

所述检测部具有多个检测单元,

多个所述检测单元分别具有:

闪烁器,通过吸收比所述预定能量带高的能量带的X射线而发射所述预定波长带的可见光线,所述闪烁器在预定方向上延伸;

检测主体,具备配置于所述闪烁器的所述X射线源一侧并在所述预定方向上排列的多个元件,所述多个元件对所述预定能量带的X射线以及所述预定波长带的可见光线具有灵敏度并生成所述信号;以及

支承体,支撑所述闪烁器以及所述检测主体,

在所述检测部中,以所述检测单元的所述闪烁器以及所述检测主体与相邻的所述检测单元的所述闪烁器以及所述检测主体无间隙排列的方式,多个所述检测单元沿所述预定方向排列。

2.根据权利要求1所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述支承体为陶瓷制。

3.根据权利要求1或2所述的X射线检查装置,其特征在于,

在所述多个检测单元中,所述闪烁器、所述检测主体以及所述支承体在所述预定方向上的长度相等。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线检查装置,其特征在于,所述检测主体具有固定于所述支承体的固定部和从所述支承体的边缘突出的悬伸部,

所述多个元件包含在所述悬伸部中。

5.根据权利要求4所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述X射线源位于所述多个元件的上方,

所述检测部还具有从上方覆盖所述多个元件且所述X射线的吸收率比所述支承体低的罩部件。

6.根据权利要求5所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述检测部还具有支撑所述多个检测单元的支撑部件,

所述支撑部件具有第一侧面接触部,所述第一侧面接触部与所述多个检测单元的所述支承体的第一侧面接触,

所述罩部件具有第二侧面接触部,所述第二侧面接触部与所述多个检测单元的所述支承体的第二侧面接触,所述第二侧面与所述第一侧面相对,

所述多个检测单元的所述支承体通过所述支撑部件的所述第一侧面接触部以及所述罩部件的所述第二侧面接触部定位。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线检查装置,其特征在于,

所述检测部还具有:

支撑部件,支撑所述多个检测单元;以及

狭缝形成部件,配置于所述X射线源与所述多个检测单元之间,并形成有供所述X射线通过的狭缝,

所述多个检测单元被所述支撑部件和所述狭缝形成部件夹着。

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