[发明专利]气井完整性检查系统有效

专利信息
申请号: 201580058721.0 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN107076871B 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: E.伯肯;J.S.普赖斯;E.J.尼特斯;W.R.罗斯;C.比诺;Y.A.普罗特尼科夫;S.M.李 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01V5/14 分类号: G01V5/14
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 严志军;谭祐祥
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 气井 完整性 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种配置成检查井结构的井完整性检查系统,所述井结构包括多个同心层,所述井完整性检查系统包括:

定位于所述井结构中的检查探头,所述检查探头包括:

多个激励组件,其配置成将成形的多个辐射发射传输至所述井结构中,其中所述多个激励组件至少包括中子激励组件和X射线激励组件;以及

多个探测组件,其配置成从所述井结构接收调制后的多个背向散射辐射回波,其中所述多个探测组件至少包括中子探测组件和X射线探测组件;以及

处理器,其联接至所述检查探头,所述处理器配置成基于调制后的所述多个背向散射辐射回波中的至少一个来确定所述井结构的井完整性参数;

其中所述井结构还包括流体流动管道、外接所述流体流动管道的多个同心套管、以及多个同心稳定器区域,各同心稳定器区域定位于相邻的同心套管之间,其中所述多个激励组件将所述多个辐射发射传输至所述多个同心套管中的至少两个相邻的同心套管和所述多个同心稳定器区域中的至少两个同心稳定器区域中。

2.根据权利要求1所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述多个激励组件还包括磁场发生器、超声发生器和涡流脉冲发生器中的至少一个。

3.根据权利要求1所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述中子激励组件和所述X射线激励组件中的每一个包括:

激励发生器;以及

波束成形装置。

4.根据权利要求3所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述激励发生器包括中子发生器和X射线发生器。

5.根据权利要求3所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述波束成形装置包括旋转套筒,所述旋转套筒配置成通过限制所述多个辐射发射的除沿着预定的路径之外的传输来促进所述多个辐射发射的沿着所述预定的路径的传输。

6.根据权利要求1所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述中子探测组件和所述X射线探测组件中的每一个包括:

辐射聚焦元件;

辐射转换元件;

辐射引导元件;以及

探测器。

7.根据权利要求6所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述辐射聚焦元件包括准直器,其配置成对准所述多个背向散射辐射回波,并且,将所述多个背向散射辐射回波朝向所述辐射转换元件引导。

8.根据权利要求6所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述辐射转换元件包括围绕所述辐射引导元件延伸的闪烁体材料,所述闪烁体材料配置成将多个高能背向散射辐射回波转换成多个低能辐射,以用于由所述探测器接收。

9.根据权利要求8所述的井完整性检查系统,其特征在于,所述辐射引导元件包括波导,所述波导配置成将所述多个低能辐射从所述闪烁体材料导向至所述探测器。

10.一种用于探询井结构的完整性的检查探头,所述井结构包括多个交替的同心套管和同心稳定器区域,所述检查探头包括:

中子激励组件,其配置成将中子束传输至所述井结构中;

X射线激励组件,其配置成将X射线束传输至所述井结构中;

中子探测组件,其配置成从所述井结构接收多个背向散射中子;以及

X射线探测组件,其配置成从所述井结构接收多个背向散射X射线;

所述中子激励组件包括中子发生器和中子波束成形装置;所述X射线激励组件包括X射线发生器和X射线波束成形装置;

所述中子波束成形装置和所述X射线波束成形装置各自包括旋转套筒,所述旋转套筒配置成通过限制所述中子束和所述X射线束的除沿着预定的路径之外的传输来促进所述中子束和所述X射线束的沿着所述预定的路径的传输。

11.根据权利要求10所述的检查探头,其特征在于,还包括磁场发生器、超声发生器和涡流脉冲发生器中的至少一个。

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