[发明专利]用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件在审
申请号: | 201580057480.8 | 申请日: | 2015-10-22 |
公开(公告)号: | CN107110981A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 玛丽亚·利奥诺·特里戈·弗朗哥·弗拉兹奥;斯特凡·保罗·K·塔韦尼尔;若昂·曼努埃尔·科尔洛·得斯·桑托斯·巴雷拉 | 申请(专利权)人: | 派西斯电子医疗PET探测仪股份公司 |
主分类号: | G01T1/164 | 分类号: | G01T1/164 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司11204 | 代理人: | 王达佐,王艳春 |
地址: | 葡萄牙*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 射线 伽马射线 探测器 组件 | ||
1.一种用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,所述探测器组件包括:
具有多个闪烁晶体像素的闪烁晶体,其中每个闪烁晶体像素的一个维度比其它两个维度更大,并且其中每个闪烁晶体像素具有一个或多个光出射面;以及
光电探测器,与每个闪烁晶体像素的所述光出射面中的至少一个相关联,
其中,第一闪烁晶体像素和第二闪烁晶体像素彼此相邻地布置,其中,所述第一闪烁晶体像素的X射线或伽马射线的相互作用引起至少一个光子的产生,并且所产生的所述至少一个光子的光学串扰发生在所述第一闪烁晶体像素与所述第二闪烁晶体像素之间,使得在使用中在与所述第二闪烁晶体像素的光出射面相关联的所述光电探测器处探测到所述第一闪烁晶体像素内的所述X射线或伽马射线的相互作用。
2.根据权利要求1所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述光电探测器是具有内部增益的固态光电探测器。
3.根据权利要求1或2所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述光电探测器是硅光电倍增管、多像素光子计数器或数字硅光电倍增管。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述闪烁晶体像素以如下方式略微吸收光:到达所述晶体的一个或每个光出射端的光量取决于所述X射线或伽马射线的相互作用点的、沿着所述闪烁晶体像素的长度的位置。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述探测器组件至少在所述第一闪烁晶体像素与所述第二闪烁晶体像素之间还包括反射材料,所述反射材料覆盖所述第一闪烁晶体像素与所述第二闪烁晶体像素之间的共同侧的一部分或全部。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述探测器组件还包括位于晶体阵列的、远离所述光电探测器所定位的光出射面的端部处的透明材料片。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述第一闪烁晶体像素与所述第二闪烁晶体像素之间的共同侧没有任何部分经光学抛光或仅一部分经光学抛光。
8.根据前述权利要求中的任一项所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中相邻的闪烁晶体像素之间的光学串扰发生在所述晶体阵列的远离所述光电探测器所定位的光出射面的端部处。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的用于X射线或伽马射线探测器的探测器组件,其中所述第一闪烁晶体像素中的光信号的幅度与所述第二像素中的光信号的幅度之比取决于所述第一闪烁晶体像素中的所述X射线或伽马射线的相互作用点的相互作用深度。
10.一种X射线或伽马射线探测器,所述探测器包括至少两个根据前述权利要求中的任一项所述的探测器组件。
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