[发明专利]用于确定传感器状况的系统在审

专利信息
申请号: 201580055595.3 申请日: 2015-10-08
公开(公告)号: CN106796747A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: R·查托帕德亚 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G08B21/18 分类号: G08B21/18;G08B25/08
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 高见
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 传感器 状况 系统
【权利要求书】:

1.一种用于确定传感器状况的设备,包括:

用于至少与传感器交互的通信模块;以及

监测模块,所述监测模块用于经由所述通信模块从所述传感器接收传感器信号,所述监测模块包括用于基于所述传感器信号来确定所述传感器的状况的传感器状况确定模块。

2.如权利要求1所述的设备,其中,所述传感器是体积传感器,并且所述传感器信号是体积水平信号。

3.如权利要求2所述的设备,其中,所述传感器是罐液位传感器,并且所述传感器信号是罐液位信号。

4.如权利要求1所述的设备,其中,所述监测模块进一步用于基于所述状况生成传感器状况通知。

5.如权利要求1所述的设备,其中,所述传感器状况确定模块用于仅基于所述传感器信号来确定所述传感器处于正常状况、不稳定状况或卡住状况。

6.如权利要求1所述的设备,其中,所述传感器状况确定模块至少包括用于从所述传感器信号中提取特征的特征提取引擎、以及用于至少基于所述提取的特征来确定所述状况的传感器状况模型。

7.如权利要求6所述的设备,其中,所述特征提取引擎用于从所述传感器信号中至少提取时域特征和频域特征。

8.如权利要求6所述的设备,其中,所述传感器状况模型包括经教导以基于对传感器信号的采样以及针对所采样的每个传感器信号的传感器状况的对应注释来确定所述状况的支持向量机。

9.一种用于教导模型以确定传感器状况的方法,所述方法包括:

接收来自传感器的至少一个传感器信号和对应的传感器状况注释,所述传感器状况包括正常状况、不稳定状况或卡住状况之一;

对所述至少一个传感器信号进行处理;

从所述至少一个传感器信号中提取特征;

从所述提取的特征中选择特征;以及

至少基于所述选择的特征和所述对应的注释来开发用于确定传感器状况的模型。

10.如权利要求9所述的方法,其中,所述传感器是体积传感器,并且所述传感器信号是体积水平信号。

11.如权利要求9所述的方法,其中,所提取的特征包括从所述传感器信号中提取的时域特征和频域特征。

12.如权利要求9所述的方法,其中,开发所述模型包括在所述模型中教导支持向量机基于所选择的特征来确定传感器状况。

13.一种用于确定传感器状况的方法,所述方法包括:

接收来自传感器的传感器信号;

从所述传感器信号中提取特征;

将所述提取的特征输入到用于确定传感器状况的模型中;以及

基于所述模型来确定传感器状况。

14.如权利要求13所述的方法,其中,所述传感器是体积传感器,并且所述传感器信号是体积水平信号。

15.如权利要求13所述的方法,其中,确定所述传感器状况包括仅基于所述传感器信号来确定所述传感器处于正常状况、不稳定状况或卡住状况。

16.如权利要求13所述的方法,其中,所提取的特征包括从所述传感器信号中提取的时域特征和频域特征。

17.如权利要求13所述的方法,进一步包括:

基于所述状况来生成传感器状况通知。

18.如权利要求13所述的方法,进一步包括:

在接收所述传感器信号之前教导所述模型中的支持向量机基于对传感器信号的采样以及针对所采样的每个传感器信号的传感器状况的对应注释来确定所述状况。

19.一种至少包括传感器和设备的系统,所述系统被安排成用于执行如权利要求9至18中任一项所述的方法。

20.一种芯片组,所述芯片组被安排成用于执行如权利要求9至18中任一项所述的方法。

21.至少一种机器可读介质,所述至少一种机器可读介质包括多条指令,所述多条指令响应于正在计算设备上被执行而使所述计算设备实施根据权利要求9至18中任一项所述的方法。

22.一种被配置成用于确定传感器状况的设备,所述设备被安排成用于执行如权利要求9至18中任一项所述的方法。

23.一种设备,所述设备具有用于执行如权利要求9至18中任一项所述的方法的装置。

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