[发明专利]隔膜及隔膜卷料的制造方法、隔膜卷料及其制造装置有效

专利信息
申请号: 201580054791.9 申请日: 2015-01-30
公开(公告)号: CN106796184B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 渡边耕一郎;片冈达哉;加集功士 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892;G01N21/894
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 蒋亭<国际申请>=PCT/JP2015/
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 隔膜 制造 方法 以及 装置
【说明书】:

本发明的课题在于容易地确定隔膜的缺陷位置。隔膜卷料(12b)的制造方法包括:形成工序,形成在隔膜卷料(12c)上涂覆有耐热层的隔膜卷料(12b);缺陷检测工序,对通过所述形成工序形成的隔膜卷料(12b)中存在的缺陷(D)进行检测;以及缺陷信息记录工序,记录包括缺陷(D)在所述隔膜卷料(12b)的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。

技术领域

本发明涉及锂离子二次电池中使用的隔膜卷料的制造方法、隔膜的制造方法、隔膜卷料、以及隔膜卷料制造装置。

背景技术

已知具有光学膜的片状产品的缺陷检查装置(专利文献1)。该缺陷检查装置将从保护膜检查部得到的缺陷的信息与其位置信息、制造识别信息一起作为码数据(二维码、QR码(注册商标))而以规定间距形成在PVA 膜卷料的一端面。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2008-116437号公报(2008年5月22日公开)

发明内容

发明所要解决的课题

然而,在锂离子二次电池所使用的隔膜的制造中,在隔膜卷料中产生缺陷,为了确定隔膜卷料中产生的该缺陷的位置而需要投入大量的劳力。

本发明的目的在于提供能够容易地确定隔膜卷料的缺陷位置的隔膜卷料的制造方法、隔膜的制造方法、隔膜卷料、以及隔膜卷料制造装置。

用于解决课题的方案

为了解决上述的课题,本发明所涉及的隔膜卷料的制造方法的特征在于,包含:形成工序,形成隔膜卷料;缺陷检测工序,对通过所述形成工序形成的隔膜卷料中存在的缺陷进行检测;以及缺陷信息记录工序,记录包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。在此,“隔膜卷料”是指被分切前的宽度宽的隔膜。

根据该特征,由于记录包括所述缺陷在隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息,因此根据所记录的该位置信息,能够容易地确定隔膜卷料中存在的缺陷。因此,能够容易地去除隔膜卷料中存在的缺陷。

在本发明所涉及的隔膜卷料的制造方法中,优选所述缺陷信息还包括所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置信息。在此,“隔膜卷料的长度方向”相当于在隔膜的制造工序中搬运制造对象物的方向。

根据上述结构,能够根据所述缺陷在长度方向上的位置信息,在从卷绕的隔膜卷料中卷出隔膜卷料时容易地发现上述缺陷。

在本发明所涉及的隔膜卷料的制造方法中,优选所述缺陷信息记录在所述隔膜卷料的长度方向上的与所述缺陷的位置对应的部位。

根据上述结构,能够根据记录有缺陷信息的位置,确定缺陷在隔膜卷料的长度方向上的位置。另外,在与所述缺陷在隔膜卷料的长度方向上的位置对应的位置记录有缺陷信息,因此即使隔膜卷料沿长度方向拉伸,缺陷与缺陷信息的长度方向的位置实质上也不会偏离。因此,即使隔膜卷料沿长度方向拉伸,也能够容易地确定缺陷的长度方向的位置。

为了解决上述的课题,本发明所涉及的隔膜的制造方法的特征在于,包含:形成工序,形成隔膜卷料;缺陷检测工序,对通过所述形成工序形成的隔膜卷料中存在的缺陷进行检测;缺陷信息记录工序,记录包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息;切断工序,将具有通过所述缺陷信息记录工序记录了所述位置信息的缺陷的隔膜卷料沿着所述卷料的长度方向切断,从而形成多个隔膜;读取工序,读取所述位置信息;以及标记施加工序,根据通过所述读取工序读取到的位置信息,对通过所述切断工序切断而成的多个隔膜中的至少一个施加用于确定所述缺陷的位置的标记。

根据该特征,根据通过读取工序读取到的位置信息,对通过切断工序切断而成的多个隔膜中的至少一个施加用于确定缺陷的位置的标记,因此能够容易地去除将隔膜卷料分切而成的多个隔膜中的包含该缺陷的隔膜的缺陷部位。

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