[发明专利]显微镜有效
申请号: | 201580054410.7 | 申请日: | 2015-07-15 |
公开(公告)号: | CN106796343B | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 马克·霍内格;哈拉尔德·施尼茨勒;雷托·祖斯特 | 申请(专利权)人: | 徕卡显微系统(瑞士)股份公司 |
主分类号: | G02B21/24 | 分类号: | G02B21/24;G02B21/36;G02B7/38 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋融冰 |
地址: | 瑞士希*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显微镜 | ||
1.一种显微镜(10)的工作方法,该显微镜包括:
用于进行聚焦过程的自动聚焦系统(11),该自动聚焦系统带有用于摄取第一图像(16a)的设置在第一输出光路(12a)中的第一图像传感器(14a)和用于摄取第二图像(16b)的设置在第二输出光路(12b)中的第二图像传感器(14b),
其中,所述自动聚焦系统(11)被构造成在用于由所述第一图像传感器(14a)摄取所述第一图像(16a)和由所述第二图像传感器(14b)摄取所述第二图像(16b)的图像摄取时间内,以焦点移动速度调节清晰平面(20)相对于物体平面(22)的相对位置,
其特征在于,所述焦点移动速度等于步距与所述图像摄取时间的比,
所述步距大于所述显微镜(10)的景深,
所述步距小于或等于所述显微镜(10)的景深的10倍。
2.如权利要求1所述的显微镜(10)的工作方法,其中,所述自动聚焦系统(11)经过构造,从而能够借助至少第一种工作模式和第二种工作模式进行所述聚焦过程。
3.如权利要求2所述的显微镜(10)的工作方法,其中,所述自动聚焦系统(11)经过适当设计,从而它在所述第一种工作模式下求得由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的对照值,且在所述第二种工作模式下求得由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的对照值,并且基于求得的对照值调节清晰平面(20)相对于物体平面(22)的所述相对位置。
4.如权利要求2或3所述的显微镜(10)的工作方法,其特征在于,所述自动聚焦系统(11)被构造成在所述第一种工作模式下适当地调节所述清晰平面(20)相对于所述物体平面(22)的相对位置,从而所述清晰平面(20)位于所述物体平面(22)周围的第一误差范围内,并且在所述第二种工作模式下适当地调节所述清晰平面(20)相对于所述物体平面(22)的相对位置,从而所述清晰平面(20)位于所述物体平面(22)周围的第二误差范围内,其中,所述第二误差范围小于所述第一误差范围。
5.如权利要求4所述的显微镜(10)的工作方法,其特征在于,所述自动聚焦系统(11)被构造成用于进行方向识别,用来基于由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)的第一对照值和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的第二对照值的比较来调节所述清晰平面(20)相对于所述物体平面(22)的相对位置。
6.如权利要求5所述的显微镜(10)的工作方法,其特征在于,所述自动聚焦系统(11)被构造成基于所述方向识别适当地调节所述清晰平面(20)相对于所述物体平面(22)的相对位置,使得所述清晰平面(20)朝向所述物体平面(22)移动,或者使得所述物体平面(22)朝向所述清晰平面(20)移动,从而减小所述清晰平面(20)与所述物体平面(22)之间的距离,如果由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)的所述第一对照值大于由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的所述第二对照值。
7.如权利要求5或6所述的显微镜(10)的工作方法,其特征在于,所述自动聚焦系统(11)被构造成基于所述方向识别适当地调节所述清晰平面(20)相对于所述物体平面(22)的相对位置,使得所述清晰平面(20)移动远离所述物体平面(22),或者使得所述物体平面(22)移动远离所述清晰平面(20),从而增大所述清晰平面(20)与所述物体平面(22)之间的距离,如果由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的所述第二对照值大于由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)的所述第一对照值。
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