[发明专利]手持式荧光计有效

专利信息
申请号: 201580050497.0 申请日: 2015-08-03
公开(公告)号: CN106716110B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: E·托克图夫;A·斯柯达;A·菲利普晨柯;J·W·伯德乌克;J·S·瓦伦斯坦;A·巴肯;S·福布什;J·哈奇森 申请(专利权)人: 艺康美国股份有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 姜雪梅
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 手持 荧光
【权利要求书】:

1.一种用于测量样本的荧光的荧光计,所述样本包括吡啶二羧酸,所述荧光计包括:

壳体;

控制器,所述控制器由所述壳体支撑,所述控制器构造成基于检测到的荧光发射来确定样本中物质的浓度;和

传感器头,所述传感器头包括:

发射器模块,所述发射器模块操作地联接到所述控制器并且包括:

激发源,所述激发源构造成发射一个或多个波长的电磁辐射,以引发所述样本中的荧光,所述电磁辐射的发射沿着第一光束路径被引导;

激发滤波器,所述激发滤波器构造成将处于第一波长范围内的电磁辐射朝向所述样本传递;和

激发滤波器保持件,所述激发滤波器保持件由所述壳体支撑并且限定了用于电磁辐射通过的孔,所述激发滤波器保持件适于支撑所述激发滤波器,使得所述激发滤波器将由所述激发源发射的电磁辐射滤波成处于所述第一波长范围内并且允许滤波后的所述电磁辐射通过所述孔并且朝向所述样本,使得所述第一光束路径限定了从所述激发源至所述激发滤波器、经由所述孔且朝向所述样本的电磁辐射轨迹;和

检测器模块,所述检测器模块操作地连接到所述控制器,所述检测器模块构造成检测由样本发射的荧光,其中,所述荧光计显示由所述控制器确定的所述样本中物质的浓度,

所述孔定位成相对于所述第一光束路径非对称,从而所述孔使得所述第一光束路径中的所述电磁辐射的非对称部分通过而激发滤波器保持件阻挡所述第一光束路径中的所述电磁辐射的对应非对称部分通过,阻挡所述第一光束路径中的所述电磁辐射的对应非对称部分通过减小了从所述发射器模块直接定向到所述检测器模块的电磁辐射量。

2.根据权利要求1所述的荧光计,还包括第一聚焦设备和第二聚焦设备,所述第一聚焦设备和所述第二聚焦设备容纳在所述壳体中,所述第一聚焦设备适于将源自所述激发源并且由所述激发滤波器传递的电磁辐射朝向所述样本引导,并且所述第二聚焦设备适于将源自所述样本的荧光朝向所述检测器模块引导。

3.根据权利要求2所述的荧光计,其中,所述孔具有半圆形横截面。

4.根据权利要求2所述的荧光计,其中,所述孔成形为防止通过所述第一聚集设备的电磁辐射朝向所述第二聚焦设备引导。

5.根据权利要求1所述的荧光计,其中,所述孔通过阻塞圆形开口的至少一部分而形成。

6.根据权利要求1所述的荧光计,其中,所述荧光计还包括由所述发射器模块支撑的基准光电探测器,所述基准光电探测器构造成用于测量代表由所述激发源发射的电磁辐射的基准信号。

7.根据权利要求6所述的荧光计,其中,所述荧光计还包括衰减器,所述衰减器阻挡所述基准光电探测器的至少一部分,所述衰减器构造成在所述衰减器的表面区域上提供由所述激发源发射的电磁辐射的空间均匀衰减,使得所述衰减器帮助防止所述基准光电探测器电磁辐射饱和。

8.根据权利要求7所述的荧光计,其中,所述衰减器包括联结到所述发射器模块的聚四氟乙烯层。

9.根据权利要求1所述的荧光计,其中,所述荧光计还包括容纳在所述检测器模块上的发射滤波器,所述发射滤波器构造成将由所述样本发射的荧光传递到所述检测器模块。

10.根据权利要求9所述的荧光计,其中,所述发射滤波器构造成将处于第二波长范围内的电磁辐射朝向容纳在所述检测器模块上的光电探测器传递。

11.根据权利要求10所述的荧光计,其中,所述第一波长范围为250纳米至300纳米。

12.根据权利要求11所述的荧光计,其中,所述第二波长范围为400纳米至700纳米。

13.根据权利要求10所述的荧光计,其中,所述光电探测器包括光电二极管。

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