[发明专利]手持式测量仪及其操作方法有效
| 申请号: | 201580048847.X | 申请日: | 2015-08-11 |
| 公开(公告)号: | CN106662541B | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
| 发明(设计)人: | R.克拉普夫;F.库尔茨 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08;G01R33/38;G01S15/02;G01S13/02;G01S13/86;G01S13/88;G01S15/88 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 赵辛;宣力伟 |
| 地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 手持 测量仪 及其 操作方法 | ||
1.一种用于无损确定涉及工件(42)的材料性能的材料测量值的移动式测量仪,具有壳体(12),在该壳体内至少设有
•第一传感器装置(32),第二传感器装置(60),
•用于控制所述第一和/或第二传感器装置的控制装置(28),
•用于分析至少一个由所述第一和/或第二传感器装置提供的测量信号的分析装置(30),以及
•给该测量仪供应能量的装置,
其特征是,所述第一传感器装置具有至少一个核磁共振传感器(32')即NMR传感器,并且所述第二传感器装置具有至少一个基于介电方法和/或电阻方法的传感器(60'),其中通过分析由所述第一传感器装置(32)提供的测量信号来获得关于工件(42)材料性能的信息,该信息设置用于优化控制所述第二传感器装置(60)和/或优化分析由所述第二传感器装置(60)提供的测量信号,
其中,第二传感器装置的优化控制是指涉及工件材料性能的第一信息被用于影响控制第二传感器装置的控制装置的至少一个特征参数和/或控制参数,并且由第二传感器装置提供的测量信号的优化分析是指涉及工件材料性能的第一信息被用于影响分析装置的至少一个分析例行程序和/或分析过程。
2.根据权利要求1所述的测量仪,其特征是,所述第二传感器装置(60)具有至少一个传感器(60'),该传感器来自电容传感器、微波传感器、超声波传感器、电阻传感器、导电性传感器和/或雷达传感器的组。
3.根据权利要求1或2所述的测量仪,其特征是,该核磁共振传感器(32')具有用于产生第一磁场(34)的第一装置、用于产生第二磁场(36)的第二装置(48),所述第二磁场与第一磁场(34)叠加,其中该控制装置(28)具有用于控制该第二装置(48)的至少一个控制单元,其中该控制单元设置用于改变该第二磁场(36)。
4.根据权利要求3所述的测量仪,其特征是,该核磁共振传感器(32')具有用于探测磁场变化的装置(86)。
5.根据权利要求3所述的测量仪,其特征是,该核磁共振传感器(32')的磁场(34,36)限定该核磁共振传感器(32')的第一敏感区(38)。
6.根据权利要求5所述的测量仪,其特征是,所述核磁共振传感器(32')的第一敏感区(38)是层状区,它基本与第一壳体侧面(40)平行且间隔地在该测量仪(10)的壳体(12)外延伸。
7.根据权利要求6所述的测量仪,其特征是,该核磁共振传感器(32')的第一敏感区(38)能沿对于该测量仪的第一壳体侧面(40)的垂直线(84)在该壳体(12)外移动。
8.根据权利要求6所述的测量仪,其特征是,所述第二传感器装置(60)具有第二敏感区(62),它关于对于该测量仪(10)的第一壳体侧面(40)的垂直线(84)基本对称地沿该垂直线延伸。
9.根据权利要求8所述的测量仪,其特征是,设有允许影响所述第一敏感区(38)和/或第二敏感区(62)的延伸方向和/或均匀性和/或几何形状的多个机构。
10.根据权利要求1所述的测量仪,其特征是,设有多个屏蔽机构(58),它们允许使所述传感器装置(32,60)相互干扰影响减至最小。
11.根据权利要求1所述的测量仪,其特征是,该分析装置(30)被设计用于分析至少一个由所述第一传感器装置(32)和/或第二传感器装置(60)提供的测量信号。
12.根据权利要求1所述的测量仪,其特征是,设有用于输入工作参数的输入装置(14)。
13.根据权利要求12所述的测量仪,其特征是,所述输入装置布置在所述测量仪的第二壳体侧面(20)中或上。
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