[发明专利]测量降压切换模式电力供应器中的输出电流有效
申请号: | 201580045951.3 | 申请日: | 2015-10-16 |
公开(公告)号: | CN106664018B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 斯科特·迪尔伯恩;克利夫·埃利森 | 申请(专利权)人: | 密克罗奇普技术公司 |
主分类号: | H02M3/156 | 分类号: | H02M3/156;H02M3/158 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 沈锦华 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 降压 切换 模式 电力供应 中的 输出 电流 | ||
1.一种用于在切换模式电力供应器SMPS中执行电流测量的方法,所述切换模式电力供应器具有串联耦合于供应电压与共同点之间的高侧及低侧开关以及耦合于所述高侧开关和所述低侧开关的接合点与负载之间的功率电感器,所述方法包括以下步骤:
将时序电容器预充电到预定参考电压;
当所述高侧开关在脉冲宽度调制周期达到50%之前接通时,以第一恒定电流将所述时序电容器充电;
如果所述高侧开关在所述脉冲宽度调制周期达到50%之前关断,则停止所述充电,或当脉冲宽度调制周期达到50%且所述高侧开关接通时,以所述第一恒定电流将所述时序电容器放电;
当所述脉冲宽度调制周期达到50%且所述高侧开关关断时,以第二恒定电流将所述时序电容器放电,其中所述第二恒定电流为所述第一恒定电流的两倍;及
当所述时序电容器上的电压达到所述预定参考电压时,对所述功率电感器电流进行取样。
2.根据权利要求1所述的方法,其中当对所述功率电感器电流进行取样时,执行所述将所述时序电容器预充电到所述参考电压。
3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:借助模/数转换器将所述功率电感器电流样本转换为其数字表示的步骤。
4.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括以下步骤:
将多个所述功率电感器电流样本求平均;及
借助模/数转换器将所述多个所述功率电感器电流样本的平均值转换为其数字表示。
5.根据权利要求1所述的方法,其中对所述功率电感器电流进行取样的所述步骤包括以下步骤:
在所述低侧开关与所述供应共同点之间提供电流测量电阻器;及
当所述时序电容器上的所述电压达到所述预定参考电压时,对跨越所述电流测量电阻器形成的电压进行取样。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述高侧开关及所述低侧开关为功率晶体管。
7.根据权利要求6所述的方法,其中所述功率晶体管为金属氧化物半导体场效晶体管。
8.根据权利要求1所述的方法,其中对所述功率电感器电流进行取样的所述步骤包括当所述时序电容器上的所述电压达到所述预定参考电压时对跨越所述低侧金属氧化物半导体场效晶体管形成的电压进行取样的所述步骤。
9.根据权利要求1所述的方法,其中对所述功率电感器电流进行取样的所述步骤包括以下步骤:
提供与所述低侧金属氧化物半导体场效晶体管相关联的前导场效晶体管,其中所述前导场效晶体管具有流动穿过其的所述功率电感器电流的小部分;及
当所述时序电容器上的所述电压达到所述预定参考电压时,对跨越所述前导场效晶体管及所述低侧金属氧化物半导体场效晶体管形成的电压进行取样。
10.根据权利要求1所述的方法,其中对所述功率电感器电流进行取样的所述步骤包括以下步骤:
提供与所述功率电感器串联的电流测量电阻器;及
当所述时序电容器上的所述电压达到所述预定参考电压时,对跨越所述电流测量电阻器形成的电压进行取样。
11.根据权利要求1所述的方法,其中对所述功率电感器电流进行取样的所述步骤包括当所述时序电容器上的所述电压达到所述预定参考电压时对跨越所述功率电感器的电压进行取样的所述步骤。
12.根据权利要求1所述的方法,其中预定阈值电压为大约零(0)伏特。
13.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括当所述时序电容器上的所述电压达到所述预定参考电压时产生取样信号的步骤。
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