[发明专利]在存储器控制器处执行错误校正的方法和装置

说明书

暴露来自存储器设备的内部错误校正位以作为元数据位供外部存储器控制器使用。在第一模式中，存储器设备应用内部错误校正位以用于存储器设备处的内部错误校正。在第二模式中，存储器设备向存储器控制器暴露内部错误校正位以允许存储器控制器使用该数据。

技术领域

本发明的实施例一般涉及存储器设备，并且更特别地涉及将内部错误校正位暴露为元数据位的存储器。

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背景技术

计算设备使用存储器设备来存储数据和代码以供处理器运行其操作。随着存储器设备在大小方面的减小和在密度方面的增加，它们在处理期间经历更多错误，称为良率问题。因此，存储器设备经历越来越多的位故障，甚至在现代处理技术的情况下。为了减轻位故障，现代存储器提供内部错误校正机制，诸如ECC(错误校正码)。存储器设备在内部生成ECC数据，并且在存储器设备处内部使用ECC数据。存储器设备内的内部错误校正可以附加于使用在存储器设备与存储器控制器之间的数据交换中的无论什么系统范围的错误校正或错误减轻。将理解到，存储器设备内的ECC的应用要求附加的逻辑以计算ECC和将其应用于校正数据位。还将理解到，在存储器设备内部的ECC的应用要求在与存储器控制器或存储器设备外部的其它组件交换数据时实时地计算和应用ECC。这样的实时要求可以将延迟引入数据交换中。

发明内容

根据本申请第一方面，提供一种用于对接存储器设备和存储器控制器的方法，包括：确定存储器设备处于第一模式还是第二模式；以及在第一模式中，仅在存储器设备处在内部应用内部错误校正位；以及在第二模式中，向外部存储器控制器暴露内部错误校正位作为元数据位以供外部存储器控制器使用来校正错误而不是所述存储器设备在内部校正错误。

根据本申请第二方面，提供一种与存储器子系统中的存储器控制器对接的存储器设备，包括：存储数据的多个存储器单元；内部错误校正硬件，其包括与存储器单元分离的存储内部错误校正位的储存器；以及确定存储器设备处于第一模式还是第二模式的逻辑，其中在第一模式中，所述逻辑仅用内部错误校正硬件在内部应用错误校正位，并且其中在第二模式中，所述逻辑通过作为元数据位向存储器控制器暴露内部错误校正位以供存储器控制器使用来校正错误而不是所述存储器设备在内部校正错误。

根据本申请第三方面，提供一种与存储器子系统中的存储器控制器对接的装置包括：用于确定存储器设备处于第一模式还是第二模式的部件；以及用于在第一模式中仅在存储器设备处在内部应用内部错误校正位的部件；以及用于在第二模式中向外部存储器控制器暴露内部错误校正位作为元数据位以供外部存储器控制器使用来校正错误而不是存储器设备在内部校正错误的部件。

附图说明

以下描述包括具有通过本发明的实施例的实现的示例的方式给出的图示的附图的讨论。附图应当通过示例的方式而非通过限制的方式来理解。如本文所使用的，对一个或多个“实施例”的引用要被理解为描述包括在本发明的至少一个实现中的特定特征、结构和/或特性。因此，在本文中出现的诸如“在一个实施例中”或“在可替换的实施例中”之类的短语描述本发明的各种实施例和实现，并且不一定全部是指相同的实施例。然而，它们也不一定相互排斥。

图1是具有存储器设备的系统的实施例的框图，所述存储器设备可以暴露内部错误校正位以供外部存储器控制器使用。

图2是具有存储器设备的系统的实施例的框图，所述存储器设备可以暴露内部错误校正位以供外部存储器控制器使用。

图3是其中存储器控制器使来自多个存储器设备的内部错误校正位成群的系统的实施例的框图。