[发明专利]磁共振成像装置以及磁共振成像方法在审
申请号: | 201580044330.3 | 申请日: | 2015-10-07 |
公开(公告)号: | CN106659421A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 平井甲亮 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 韩丁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 以及 方法 | ||
技术领域
本发明涉及磁共振成像(以下,所谓MRI)技术,特别地,涉及进行多次摄影来得到加法图像的加法摄影技术。
背景技术
存在一个激励RF脉冲照射后,以一定间隔照射再收敛RF脉冲,并连续地收集多个NMR信号(回波信号)的FSE(Fast Spin Echo,快速自旋回波)序列。在FSE序列中,由于按照每个再收敛RF脉冲而收集的回波信号的强度根据摄影组织的T2值而衰减,因此在重建1张图像的回波信号之间产生信号强度差,在图像上成为伪影。
作为该对策,存在如下方法:进行获取多张图像并相加的加法摄影,在获取其第奇数张图像的序列和获取第偶数张图像的序列中,使k空间上的回波配置在时间方向上反转(例如,参照专利文献1)。
此外,存在激励RF脉冲照射后,通过使导出(lead out)倾斜磁场脉冲反复反转来收集多个回波信号的EPI(Echo Planar Imaging,回波平面成像)序列。在EPI序列中,由于使读出倾斜磁场脉冲的极性高速地反转,因此在测量的回波信号产生相位误差,这在图像上成为伪影。
作为该对策,存在如下方法:在进行加法摄影并获取第偶数张图像的序列中,使获取第奇数张图像的序列的同一相位编码量中的读取倾斜磁场的极性相反(例如,参照专利文献2)。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:欧洲专利第1653244号说明书
专利文献2:美国专利第7418286号说明书
发明内容
-发明要解决的课题-
目的均在于通过使规定的硬件输出的极性反转并进行摄影,来将硬件性能所导致的误差以及/或者硬件控制方法所导致的信号波动抵消。在这样的加法摄影中,其性质上的前提在于加法次数是偶数次。
然而,一般地,加法摄影是为了提高图像的S/N比而进行的,根据需要的画质和摄影时间来决定最佳的次数。因此,最佳的加法次数并不一定仅限于偶数次。在以抵消为目的的摄影中,偶数次是必要条件,因此在根据摄影条件等决定的最佳的次数不是偶数次的情况下,为了使加法次数为偶数次,需要牺牲某些条件。
本发明鉴于上述情况而作出,其目的在于,在加法摄影之中,提供一种在通过使规定的硬件输出的极性反转并进行摄影来将硬件性能所导致的误差以及/或者硬件控制方法所导致的信号波动抵消的摄影中,消除加法次数的限制的技术。
-解决课题的手段-
本发明执行第一摄影序列、和使所述第一摄影序列的规定的倾斜磁场脉冲的极性反转的第二摄影序列,将通过各个摄影序列而得到的数据相加,得到加法图像。在相加时,决定各系数,以使得与通过第一摄影序列而得到的第一数据相乘的系数的总和、和与通过第二摄影序列而得到的第二数据相乘的系数的总和相等。
-发明效果-
根据本发明,在加法摄影中,能够没有加法次数的制约地,进行使规定的硬件输出的极性反转来抵消硬件性能所导致的误差以及/或者硬件控制方法所导致的信号波动的摄影。
附图说明
图1是第一实施方式的MRI装置的整体构成的框图。
图2是用于对FSE序列进行说明的说明图。
图3(a)以及(b)是用于对第一实施方式的FSE序列进行说明的说明图。
图4是用于对第一实施方式的回波信号配置顺序进行说明的说明图。
图5(a)是用于对加法摄影中第一次的摄影序列执行时的k空间的ky方向的信号分布进行说明的图,(b)是用于对根据该k空间而重建的图像的y方向的信号分布进行说明的说明图。
图6(a)是用于对加法摄影中,第二次的摄影序列执行时的k空间的ky方向的信号分布进行说明的图,(b)是用于对根据该k空间而重建的图像的y方向的信号分布进行说明的说明图。
图7(a)是用于对加法摄影中,第一次的结果与第二次的结果的相加结果的k空间的ky方向的信号分布进行说明的图,(b)是用于对根据该k空间而重建的图像的y方向的信号分布进行说明的说明图。
图8(a)是用于对加法摄影中通过现有的手法,第一次的结果、第二次的结果和第三次的结果的相加结果的k空间的ky方向的信号分布进行说明的图,(b)是用于对根据该k空间而重建的图像的y方向的信号分布进行说明的说明图。
图9是第一实施方式的整体控制部的功能框图。
图10是第一实施方式的加法摄影处理的流程图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580044330.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于确定应用区域的中心的技术
- 下一篇:外围均衡的最小背景估计