[发明专利]成膜装置、有机膜的膜厚测量方法以及有机膜用膜厚传感器在审
申请号: | 201580020079.7 | 申请日: | 2015-05-22 |
公开(公告)号: | CN106232858A | 公开(公告)日: | 2016-12-14 |
发明(设计)人: | 伊藤敦;深尾万里;小林义和 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱发科 |
主分类号: | C23C14/24 | 分类号: | C23C14/24;C23C14/12;G01B7/06;H01L51/50;H05B33/10 |
代理公司: | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)11017 | 代理人: | 韩登营;蒋国伟 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 有机 测量方法 以及 膜用膜厚 传感器 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社爱发科,未经株式会社爱发科许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580020079.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类