[发明专利]离子分析装置

权利要求书

1.一种离子分析装置，对将源自试样成分的离子裂解而生成的碎片离子进行分析，其特征在于，具备：

a)离子裂解部，其通过对作为目标的源自试样成分的离子所存在的空间以4×10¹⁰原子/秒以上的流量导入氢自由基，来使该离子裂解；以及

b)分离检测部，其根据质荷比和离子迁移率中的至少一方来分离并检测在所述离子裂解部中生成的碎片离子。

2.根据权利要求1所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部向离子封入部导入氢自由基，在该离子封入部的内部使作为目标的源自试样成分的离子与氢自由基反应来使该离子裂解，其中，该离子封入部通过电场或磁场的作用将离子封入规定的空间。

3.根据权利要求2所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子封入部是离子阱，所述离子裂解部包括辅助裂解促进部，在导入氢自由基之前和导入氢自由基之后的至少一方的期间，该辅助裂解促进部使在所述离子阱内捕获到的离子激发，通过使该离子与导入到该离子阱内的中性粒子碰撞来促进离子的裂解。

4.根据权利要求2所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子封入部是离子阱，所述离子裂解部包括辅助裂解促进部，在导入氢自由基之前和导入氢自由基之后的至少一方的期间，该辅助裂解促进部通过对在所述离子阱内捕获到的离子照射激光来促进该离子的裂解。

5.根据权利要求2～4中的任一项所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子封入部是离子阱，在导入氢自由基之前，所述离子裂解部利用冷却气体对在所述离子阱内捕获到的离子进行冷却。

6.根据权利要求2～4中的任一项所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子封入部是离子阱，在导入氢自由基的期间的至少一部分期间内，所述离子裂解部通过对除前体离子以外的在质荷比范围内包含的离子进行共振激励，来抑制离子与氢自由基的反应速度。

7.根据权利要求2所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部将导入氢自由基的时间设定得长使得发生多次裂解。

8.根据权利要求1～4及7中的任一项所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部包括氢自由基导入管，该氢自由基导入管是用于将氢自由基输送到离子所存在的区域的、在玻璃管或者至少内壁面上形成有玻璃覆膜的配管。

9.根据权利要求1～4及7中的任一项所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部包括：

氢自由基导入管，其用于将氢自由基输送到离子所存在的区域；以及

加热部，其使该氢自由基导入管维持高温，或对该氢自由基导入管进行加热。

10.根据权利要求1～4及7中的任一项所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部使惰性气体沿着氢自由基导入管的内壁面流动，通过该惰性气体的流动来避免氢自由基接触导入管内壁面并且将氢自由基输送到离子所存在的区域，其中，该氢自由基导入管用于将氢自由基输送到离子所存在的区域。

11.根据权利要求1～4及7中的任一项所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部包括流束整形部，该流束整形部用于取出具有定向性的氢自由基流。

12.一种离子分析装置，对将源自试样成分的离子裂解而生成的碎片离子进行分析，其特征在于，具备：

a)离子裂解部，其通过对作为目标的源自试样成分的离子所存在的空间以3×10¹²原子/立方米以上的密度导入氢自由基，来使该离子裂解；以及

b)分离检测部，其根据质荷比和离子迁移率中的至少一方来分离并检测在所述离子裂解部中生成的碎片离子。

13.根据权利要求12所述的离子分析装置，其特征在于，

所述离子裂解部向离子封入部导入氢自由基，在该离子封入部的内部使作为目标的源自试样成分的离子与氢自由基反应来使该离子裂解，其中，该离子封入部通过电场或磁场的作用将离子封入规定的空间。