[发明专利]用于检测图像传感器中的定址故障的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201580009450.X 申请日: 2015-02-20
公开(公告)号: CN106233723B 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: J.德林卡;谷喜东 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/365
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 闫小龙,陈岚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 图像传感器 中的 定址 故障 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种检测包括像素阵列的图像传感器中的错误像素定址的方法,所述方法包括:

获得针对图像传感器的目标像素地址的实际固定图案噪声;

使实际固定图案噪声与针对目标像素地址所已知的参考固定图案噪声相关;以及

基于相关结果来检测针对图像传感器的定址故障。

2.权利要求1所述的方法,还包括当图像传感器被假设或者检测成处于正常操作温度以下时,使用延长的曝光时间来获得实际固定图案噪声。

3.权利要求1或2所述的方法,还包括当图像传感器被假设或者检测成处于正常操作温度处时,使用与传感器的操作帧速率对应的标称曝光时间来获得固定图案噪声。

4.权利要求1-3中任一项所述的方法,还包括根据期望的最小操作温度加热传感器。

5.权利要求1-4中任一项所述的方法,还包括存储工厂表征信息,其包括针对传感器的至少某一范围像素地址的温度依赖的参考固定图案噪声数据。

6.权利要求1-4中任一项所述的方法,还包括存储工厂表征信息,其包括针对传感器的所有像素地址的温度依赖的参考固定图案噪声数据。

7.权利要求1-6中任一项所述的方法,其中获得针对图像传感器的目标像素地址的实际固定图案噪声包括获得针对像素阵列的目标行或列的实际固定图案噪声,其中使实际固定图案噪声与参考固定图案噪声相关包括获得针对像素阵列的某一范围行或列的参考固定图案噪声,所述范围包括目标行或列,以及使针对目标行或列的实际固定图案噪声与针对所述范围中的每一行或列的参考固定图案噪声相关,并且其中基于相关结果来检测针对图像传感器的定址故障包括在针对目标行或列的实际固定图案噪声不与针对目标行或列的参考固定图案噪声明确相关的情况下决定存在定址故障,并且其中在目标行或列的实际固定图案噪声关于针对目标行或列的参考固定图案噪声满足所限定的相关阈值但是不与针对所述范围内的任何其它行或列的参考固定图案噪声强烈地相关的情况下,认为针对目标行或列的实际固定图案噪声与针对目标行或列的固定图案噪声明确相关。

8.权利要求1-7中任一项所述的方法,其中:

获得针对图像传感器的目标像素地址的实际固定图案噪声包括从图像传感器的目标像素地址读取实际固定图案噪声(FPN)值;

使实际固定图案噪声与针对目标像素地址所已知的参考固定图案噪声相关包括确定实际FPN值是否匹配于作为实际在目标像素地址处的像素的特性的参考FPN值;以及

基于相关结果来检测针对图像传感器的定址故障包括在实际FPN值与针对目标像素地址的参考FPN值不匹配的情况下决定定址故障针对图像传感器而言存在。

9.一种配置为检测图像传感器中的定址错误的测试电路,所述测试电路包括:

处理电路;

存储固定图案噪声(FPN)模板的计算机可读介质,所述模板包括针对传感器的至少某一范围像素地址的参考FPN值;以及

配置为将处理电路通信耦合到图像传感器的传感器接口电路;并且

其中处理电路配置为:

获得针对图像传感器的目标像素地址的实际固定图案噪声;

使实际固定图案噪声与针对目标像素地址所已知的参考固定图案噪声相关;以及

基于相关结果来检测针对图像传感器的定址故障。

10.权利要求9所述的测试电路,其中处理电路配置为:

通过获得针对像素阵列的目标行或列的实际固定图案噪声而获得针对图像传感器的目标像素地址的实际固定图案噪声;

通过获得针对像素阵列的某一范围行或列的参考固定图案噪声以及使针对目标行或列的实际固定图案噪声与针对所述范围中的每一行或列的参考固定图案噪声相关来使实际固定图案噪声与参考固定图案噪声相关,所述范围包括目标行或列;以及

通过在针对目标行或列的实际固定图案噪声不与针对目标行或列的参考固定图案噪声明确相关的情况下决定存在定址故障而基于相关结果检测针对图像传感器的定址故障。

11.权利要求9所述的测试电路,其中处理电路配置为:

从图像传感器的目标像素地址读取实际固定图案噪声(FPN)值;

确定实际FPN值是否匹配于针对实际在目标像素地址处的像素从FPN模板已知的参考FPN值;以及

在实际FPN值与针对目标像素地址的参考FPN值不匹配的情况下决定定址故障针对图像传感器而言存在。

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