[发明专利]残余应力测定装置以及残余应力测定方法

权利要求书

1.一种残余应力测定装置，其特征在于，具备：

X射线产生源，其向测定对象物照射X射线；

第一检测元件，其在第一检测位置检测所述测定对象物的衍射X射线的强度；

第二检测元件，其在与所述第一检测位置不同的第二检测位置检测所述测定对象物的衍射X射线的强度；

移动机构，其使所述第一检测元件以及所述第二检测元件分别沿着在与X射线的入射方向正交的方向上延伸的直线移动；

移动控制部，其使所述移动机构驱动并控制所述第一检测元件以及所述第二检测元件各自的检测位置；

应力计算部，其基于所述第一检测元件以及所述第二检测元件分别借助所述移动机构移动而分别检测出的衍射X射线的强度峰值，计算所述测定对象物的残余应力。

2.根据权利要求1所述的残余应力测定装置，其特征在于，

所述移动控制部使所述第一检测元件的动作与所述第二检测元件的动作同步。

3.根据权利要求1或2所述的残余应力测定装置，其特征在于，

所述移动机构使所述第一检测元件以及所述第二检测元件向同一方向移动。

4.根据权利要求1或2所述的残余应力测定装置，其特征在于，

所述移动机构使所述第一检测元件以及所述第二检测元件仅移动同一距离。

5.一种残余应力测定方法，是使用残余应力测定装置对测定对象物的残余应力进行测定的残余应力测定方法，其特征在于，

所述残余应力测定装置具备：X射线产生源；第一检测元件，其在第一检测位置检测测定对象物的衍射X射线的强度；第二检测元件，其在与第一检测位置不同的第二检测位置检测测定对象物的衍射X射线的强度；以及移动机构，其使第一检测元件以及第二检测元件分别沿着在与X射线的入射方向正交的方向上延伸的直线移动，

所述残余应力测定方法包括以下步骤：

X射线照射步骤，向测定对象物照射X射线；

移动控制步骤，使所述移动机构驱动，使所述第一检测元件以及所述第二检测元件移动；

应力计算步骤，基于在所述移动控制步骤的执行过程中所述第一检测元件以及所述第二检测元件分别检测出的所述测定对象物的衍射X射线的强度峰值，计算所述测定对象物的残余应力。

6.根据权利要求5所述的残余应力测定方法，其特征在于，

在所述移动控制步骤中，使所述第一检测元件的动作与所述第二检测元件的动作同步。

7.根据权利要求5或6所述的残余应力测定方法，其特征在于，

在所述移动控制步骤中，使所述第一检测元件以及所述第二检测元件向同一方向移动。

8.根据权利要求5或6所述的残余应力测定方法，其特征在于，

在所述移动控制步骤中，使所述第一检测元件以及所述第二检测元件仅移动同一距离。