[发明专利]用于检查数控机床定位精度的方法和系统

权利要求书

1.一种检查数控机床(1)的定位精度的方法，数控机床(1)具有机床工具头(2)和机床工作台(3)，使用x，y，z坐标系，其中，z坐标是垂直于机床工作台表面的坐标，该方法包括如下步骤：

a)在机床工作台上排列多个容器(7)，其中，这些容器相互流体连接以形成连通容器系统，其中，连通容器系统注满液体(8)；

b)在机床工具头安装距离传感器；

c)将机床工具头定位到与垂直于容器中的一个的液体表面的位置；

d)将距离传感器接近液体的表面并确定距离传感器接触的液体表面的z坐标，

或，

对于机床工具头的预确定的z坐标，确定距离传感器和液体表面间的距离；

其中，对于每个容器重复步骤c)和d)以确定相应的液体表面的z坐标。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述数控机床(1)是龙门机床。

3.如权利要求1所述的方法，其中，距离传感器是非接触距离传感器，。

4.如权利要求3所述的方法，其中，所述非接触距离传感器是激光距离传感器、微波距离传感器或雷达距离传感器。

5.如权利要求1所述的方法，其中，在步骤a)，液体是电解质溶液和电极元件，称为容器电极(10)，与每个容器的电解质溶液相接触地放置；在步骤b)，距离传感器包含电极元件，称为工具头电极(11)，该工具头电极被安装在机床工具头，其中，工具头电极的材料与容器电极的材料不同；步骤c)包括将工具头电极接近容器中电解质溶液的表面；以及步骤d)包括通过确定工具头电极和相应容器电极间的电势差来确定工具头电极接触的溶液表面的z坐标。

6.如权利要求5所述的方法，其中，步骤c)和步骤d)包括从接近溶液表面开始直到超过预确定的电势差阈值时，周期性和/或连续性地确定电势差。

7.如权利要求5或6所述的方法，其中，在步骤d)中，一旦电势差的增加被确定，立即终止接近。

8.如权利要求7所述的方法，其中，一旦电势差超过预确定的电势差阈值被确定，立即终止接近。

9.如权利要求5所述的方法，其中，容器电极为金属电极和/或工具头电极为石墨电极。

10.如权利要求1所述的方法，其中，步骤c)和步骤d)以自动的方式被执行。

11.如权利要求10所述的方法，其中，步骤c)和步骤d)经由数控机床的相应程序以自动的方式被执行。

12.如权利要求1所述的方法，其中，步骤a)包括：

将光发射器安装到机床工具头，

将放置容器的位置的x-y坐标编程进数控机床，

使用机床工具头接近每个x-y坐标，

将容器安装在光发射器的光斑标识的位置。

13.如权利要求1所述的方法，其中，容器以阵列的方式排列。

14.如权利要求1所述的方法，该方法进一步包括补偿z方向上定位误差的步骤。

15.一种用于检查定位精度的系统，该系统包括：

具有机床工具头(2)和机床工作台(3)的数控机床(1)，

用于检查数控机床定位精度的装置，该装置包括多个相互流体连接以形成连通容器系统的容器(7)，其中连通容器系统注满液体(8)，

其中，距离传感器被安装到机床工具头。

16.如权利要求15所述的系统，其特征在于，所述数控机床(1)是龙门机床。

17.如权利要求15所述的系统，其中，液体为电解质溶液，以及电极元件，称为容器电极(10)，可与每个容器的电解质溶液相接触地放置。

18.如权利要求17所述的系统，其中容器电极是金属电极。

19.如权利要求15或17所述的系统，其中，容器以阵列的方式排列。

20.如权利要求15所述的系统，该装置包含支架，容器安装在该支架上。