[实用新型]一种适用于金属质量分析仪试样的样品架

说明书

技术领域

本实用新型属于实验室设备技术领域，具体而言，本实用新型涉及一种 扫描电子显微镜试样的样品架，特别涉及一种适用于金属质量分析仪试样的 样品架。

背景技术

研究单位购置的金属质量分析仪设备，主要用于研究钢材中非金属夹杂 物的统计与分析。具体而言，通过高能电子束扫描抛光好的金相试样，检测 背散射电子及特征X射线信号，通过背散射电子信号判断钢中的非金属夹杂， 通过特征X射线信号判断非金属夹杂物的成分，从而得出一定面积范围内钢 中非金属夹杂物的数量、尺寸、成分等信息，再通过相关软件将这些数据以 直观的形式展示出来。

背散射电子及特征X射线信号均与检测面的水平度有关，即检测面到检 测探头的距离最好保证一致；一般而言，研磨好的金相试样检测面为一个平 面。该设备随机附带的样品架为水平的平板，这样就要求研磨后的金相试样 检测面及其对面必须保持平行，且如果一次性检测多个试样，必须保证所有 试样厚度一致。如果试样厚度不一致，只能一次检测一个试样，然后打开设 备换另一个样品。受目前公司试样切割、制备能力的影响，设备样品室空间 很大，但一次只能放一个试样，需要频繁地换试样。频繁换试样意味着需要 频繁地放真空、抽真空、手动调节样品的高度、等待设备稳定并调整参数等。 增加大量不必要的工作量，同时标准样品的消耗较快，影响分析周期。

现有的用于仪器试样的样品架有很多，如申请日为2013年3月19日、 申请号为201320125529.7、名称为“一种锥形量热仪用样品架”的专利文件， 该专利文件的样品架包括底座，所述底座的一侧设有把手，所述底座上防止 有一弹性托架，所述弹性托架由托盘和设置在所述托盘下方的多个弹簧构成， 所述弹性托架的外围设有一外框架，所述外框架的顶部设有内沿板，所述外 框架的底部与所述底座固定。位于所述外框架侧壁的底部设有顶丝，所述外 框架与所述底座之间由所述顶丝固定。利用该专利文件的样品架，可以消除 样品受热收缩远离辐射锥导致样品受热辐射强度变小的影响，保证测试过程 中样品受到的热辐射强度始终如一，使测试的准确性大大提高，可以保证测 试数据的稳定性和重现性；并具有操作方便、制作成本低廉的优点。该专利 文件的样品架在适用到金属质量分析仪中，仍然是只能一次检测一个试样， 在对多个试样进行检测时会浪费不必要的人力物力。

由上分析，可知现有技术的样品架存在以下特点和缺陷：

1、不适用金属质量分析仪的试样。现有技术的样品架主要解决的是试样 的强度问题，无法直接适用到金属质量分析仪的试样中。

2、每次检测只能检测一个试样。由于试样的厚度不等，所以在检测过程 中只能对一个试样进行检测。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种适用于金属质量分析仪试样的样品架， 以至少解决现有技术存在的样品架无法适用到金属质量分析仪的技术问题， 以及解决现有技术存在的样品不平、样品高度不一致而导致一次只能检测一 个试样的技术问题。

为了解决上述问题，本实用新型提供一种适用于金属质量分析仪试样的 样品架，其技术方案如下：

一种适用于金属质量分析仪试样的样品架，包括底座，在所述底座的上 部设有水平卡槽，所述底座用于连接检测设备并提供整体支撑；限位片，插 在所述底座的所述水平卡槽内，用于对试样进行上方限位；和弹簧，安装在 所述底座上，试样安放在所述弹簧和所述限位片之间，所述弹簧用于为试样 提供弹性支撑。

如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为：所述底 座包括底部基体、第一竖直段、第二竖直段和第三竖直段；所述第一竖直段、 所述第二竖直段和所述第三竖直段的下端面固定安装在所述底部基体上；所 述第一竖直段、所述第二竖直段和所述第三竖直段为平行设置并将所述底部 基体分为第一底部基体和第二底部基体；在所述第一底部基体和所述第二底 部基体上分别安装多个所述弹簧；多个所述限位片分别插在所述第一竖直段 内侧面和所述第二竖直段的第一侧面的所述水平卡槽中，以及插在所述第三 竖直段内侧面和所述第二竖直段的第二侧面的所述水平卡槽中；多个试样一 一对应安放在所述弹簧和所述限位片之间。

如上述的适用于金属质量分析仪试样的样品架，进一步优选为：在所述 第一底部基体和所述第二底部基体上均开有多个限位槽，所述弹簧的底端放 置在所述限位槽内，所述限位槽用于对所述弹簧进行底端限位。