[实用新型]一种继电器性能测试装置有效

专利信息
申请号: 201521134240.7 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN205374685U 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 魏仕伟;李斌;王世峰;刘金成 申请(专利权)人: 惠州金源精密自动化设备有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 张海英;黄建祥
地址: 516006 广东省惠州市仲*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 继电器 性能 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及继电器加工技术领域,尤其涉及一种继电器压盖及测试设备,特别涉及一种继电器综合测试机,特别涉及一种继电器性能测试装置。

背景技术

继电器是具有隔离功能的自动开关元件,广泛应用于遥控、遥测、通讯、自动控制、机电一体化及电力电子设备中,是最重要的控制元件之一。继电器生产完成后需要对其进行性能测试继电器的性能测试包括测量继电器的吸合电压、吸合电流以及其综合性能。

现有的继电器测试装置测试的过程中会存在继电器定位不准确导致测试效果不准备的问题,对继电器的生产造成极大不利影响。

实用新型内容

本实用新型的目的在于:提供一种继电器性能测试装置,提高继电器测试效率以及测试精度。

为达此目的,本实用新型采用以下技术方案:

提供一种继电器性能测试装置,包括依次设置的耐压测试装置以及综合性能测试装置,所述耐压测试装置以及所述综合性能测试装置分别具有测试探针、以及用于定位压盖组装完成的继电器组件使其在特定位置完成性能测试的定位装置。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述定位装置包括安装架、位于所述安装架上方的定位滑轨以及可滑动设置在所述定位滑轨上的定位组件,所述定位组件可朝向或远离所述继电器组件运动,并对支撑所述继电器组件的支撑装置进行定位。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述定位组件上具有两个竖直设置的定位凸起,所述支撑装置上设置有与所述定位凸起相对应的定位凹槽,所述定位凸起与所述定位凹槽相配合实现对继电器组件的定位。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述定位装置为两组,分别设置于所述支撑装置的两侧。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述定位组件两侧安装有定位驱动杆,所述安装架上并位于所述定位滑轨两侧设置有驱动杆通孔,所述定位驱动杆穿过所述驱动杆通孔连接定位驱动装置。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述定位驱动装置包括驱动电机,以及设置在所述驱动电机的输出轴上并与所述定位驱动杆选择性连接的驱动凸轮。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述耐压测试装置以及所述综合性能测试装置还包括用于安装所述测试探针的测试板,所述测试板由驱动组件驱动可沿竖直方向朝向或远离所述继电器组件运动。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述测试探针为三组,每组为两个,根据继电器测试点位置的不同,选择其中两组进行使用。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述驱动组件包括选择性与所述测试板接触驱动所述测试板向下运动的凸轮、用于推动所述测试板向上运动的复位弹簧,以及测试驱动装置,所述凸轮设置在所述测试驱动装置的输出轴上。

作为继电器性能测试装置的一种优选技术方案,所述测试驱动装置的输出轴上还设置有位置感应片,所述位置感应片一侧设置有用于感应所述位置感应片旋转角度的位置感应器。

本实用新型的有益效果为:继电器性能测试装置可以在测试过程中对继电器进行准确定位,保证测试时测试探针与继电器触点之间的准确接触,提高测试准确性。

附图说明

下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。

图1为实施例所述继电器综合测试机立体结构结构示意图。

图2为实施例所述除尘系统立体结构示意图。

图3为实施例所述继电器压盖装置立体结构示意图。

图4为实施例所述继电器压盖装置(去除上盖振动盘)立体结构示意图。

图5为实施例所述继电器压盖装置(去除上盖振动盘)另一角度立体结构示意图。

图6为图5中Ⅰ处放大图。

图7为实施例所述上盖装置立体结构示意图。

图8为实施例所述压盖装置立体结构示意图。

图9为图8中Ⅱ处放大图。

图10为实施例所述压盖装置另一视角立体结构示意图。

图11为实施例所述耐压测试装置立体结构示意图。

图12为图11中Ⅲ处放大图。

图13为图11中Ⅳ处放大图。

图14为实施例所述综合性能测试装置立体结构示意图。

图中:

1、上料拉线;2、循环拉线;

3、除尘系统;31、等离子吹风装置;32、吸尘装置;

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