[实用新型]存储装置量产检测系统有效

专利信息
申请号: 201521132478.6 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN205302957U 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 陈任佳;田景均 申请(专利权)人: 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 徐丽昕
地址: 518108 广东省深圳市龙华新区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 存储 装置 量产 检测 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测系统及方法,特别是一种存储装置量产检测系统及方法。

背景技术

目前对存储装置,如固态硬盘的测试,主要是检测固态硬盘是是否有坏块。通常的做法是将待检测的固定硬盘外接到电脑主板上进行测试。然而,主板的接口少,每次只能测试几个固态硬盘。

实用新型内容

鉴于以上内容,有必要提供一种可以一次检测多个存储装置的量产检测系统。

一种存储装置量产检测系统,用以测试若干存储装置中是否有坏块,包括一测试架及一直流电源,所述测试架包括一基板及安装在所述基板上的一总电源接口及若干连接电路板,所述总电源接口连接所述直流电源的输出端,每一连接电路板上安装一电源总开关及若干接口插槽,每一接口插槽用以插接一待测存储装置,所述总电源接口通过所述电源总开关供电给对应的连接电路板上的接口插槽,使所述待测存储装置通电后运行自身存储的测试程序。

相较于现有技术,在上述存储装置量产检测系统中,只需要一个外接的端口就可以给全部的待测存储装置供电,并且同时检测的数量可以不局限于主板接口的个数。

附图说明

图1是本实用新型存储装置量产检测系统一第一实施方式的结构示意图。

图2是本实用新型存储装置量产检测系统一第二实施方式的结构示意图。

图3是本实用新型一实施例的连接框图。

主要元件符号说明

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

请参阅图1及图2,本实用新型存储装置量产检测系统用以测试若干存储装置100中是否有坏块,包括一测试架10。在一实施方式中,所述存储装置100是固定硬盘。

所述测试架10包括一基板11及安装在所述基板11上的一总电源接口13及若干连接电路板20。每一连接电路板20用以电连接若干存储装置100。所述总电源接口13用以连接一直流电源的输出端口30。所述直流电源输出端口可以是安装在电脑主板的电源端口、移动电源输出端口及电源适配器的输出端口等。在一实施方式中,所述连接电路板20的数量是4,每块连接电路板20电连接10个待测试的存储装置100,所述总电源接口13的类型可以是圆孔电源接口或SATA电源接口。所述直流电源电路也可以是安装在所述基板11上的交流转直流电路板,只要外加一个插头插接在交流电上就可以产生需要的直流电压。

每一连接电路板20上安装一电源总开关21、若干分开关23、若干接口插槽25及若干指示灯27。在一实施方式中,所述若干接口插槽25平行排列,所述分开关23大致排列在同一条直线上,所述若干指示灯27也大致排列在一条直线上。

所述电源总开关21连接每一分开关23。每一接口插槽25对应连接其中一分开关23及一其中指示灯27。每一接口插槽25用以对应插接其中一待测试的存储装置100。

请同时参阅图3,所述存储装置100包括一控制器101及一flash103。所述控制器101内设置一存储模块102。所述存储模块102中存储有boot程序及测试程序。所述flash103中存储有量产数据。所述测试程序用以检测所述flash103中是否存在坏块及坏块的位置。

所述直流电源将电流经过电源总开关21及对应的分开关23供应给对应的待测试的存储装置100,从而启动所述控制器101进行测试。测试的结果数据将存放在所述存储模块102中。通过提取所述存储模块102中的数据就可以根据测试结果观察到flash103中坏块的情况。所述指示灯27用以在测试程序运行过程中闪烁,以显示目前正在测试。当测试结束后,指示灯27熄灭。

这样,只需要一个电源端口就可以检测多个存储装置100,并且排放整齐,节省空间。

一种存储装置量产检测方法包括以下步骤:

步骤S1:将测试程序写入控制器101的存储模块102中。通过电脑接USB转SATA的读卡器将测试程式写进控制器101中。测试程式会暂放在存储模块102中。

步骤S2:将待测的存储装置100的接口与对应的接口插槽25插接。

步骤S3:测试程序运行检测存储装置100的flash103中是否有坏块并记录检测结果。

步骤S3包括以下步骤:

步骤S3.1:给对应的接口插槽25通电;通过打开电源总开关21及对应的分开关23给对应的接口插槽25通电。

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