[实用新型]CPU测试单元自动送检机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及自动送检机构，尤其涉及CPU测试单元自动送检机构。

背景技术

混合老化测试仪是CPU功能性老化测试用的设备，测试电路板安装在类似抽屉的抽屉机构中，操作人员将待测CPU放入测试电路板的CPU插槽中，然后手动推动抽屉机构上升使得待测CPU和温度控制单元紧密接触，处于待测位置。由于为手动操作，所以抽屉机构的受力不均衡，会导致CPU和温度控制单元产生硬性碰擦，CPU表面会产生划痕，对温度控制单元亦造成相关损伤，温度控制单元的陶瓷加热片和限位顶针易损坏，抽屉机构的限位件也易被撞损坏，测试电路板的电源线易受损。且检测人力成本高，检测效率低。

发明内容

本实用新型的目的是解决上述现有技术的不足，提供CPU测试单元自动送检机构。

为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：

CPU测试单元自动送检机构，包括具有内腔的检测主体、滑动装接于所述内腔的抽屉机构及设置于所述内腔顶部的温度控制单元，

其中，所述抽屉机构包括抽屉外框及抽屉内板，所述抽屉外框的侧壁滑动装接有用于提升所述抽屉内板的提升导轨，所述抽屉内板活动装配于所述提升导轨，所述抽屉内板上设置有测试电路板及定位销，所述测试电路板上设有装载CPU的CPU插槽，

所述抽屉外框上设置有一驱动所述提升导轨水平运动的伸缩气缸，

所述检测主体的内腔设有一用于与所述定位销配接对抽屉内板水平向运动进行限位的阻挡销，

在所述阻挡销与所述定位销配接状态下，所述抽屉内板受驱于所述提升导轨具有垂直向位移，在所述抽屉内板位于垂直向顶端时，所述CPU与所述温度控制单元相抵接。

进一步地，所述提升导轨包括复数导向槽，所述抽屉内板的侧边设有与所述导向槽相匹配的复数导向柱，所述导向柱与所述导向槽一一配接。

进一步地，所述检测主体包括驱动控制所述伸缩气缸的PLC控制器。

进一步地，所述检测主体上设有用于监控所述阻挡销与所述定位销配接状态的指示灯。

进一步地，所述检测主体上设有驱动PLC控制器的驱动按钮。

进一步地，所述PLC控制器与所述温度控制单元相通讯连接。

本实用新型的有益效果主要体现在：

（1）自动化程度高，降低了人力成本，提高了测试效率；

（2）通过PLC控制器驱动气缸进行推进，抽屉机构受力均衡，测试过程中不会对零部件产生硬性碰撞，提高自动送检机构的使用寿命，同时保护了测试的CPU，杜绝CPU及自动送检机构在测试过程中受损的情况发生。

附图说明

图1是本实用新型CPU测试单元自动送检机构中抽屉机构的结构示意图；

图2是本实用新型CPU测试单元自动送检机构的截面示意图；

图3是本实用新型中阻挡销与定位销配接示意图。

具体实施方式

本实用新型提供了一种CPU测试单元的自动送检机构，以下结合附图对本实用新型技术方案进行详细描述，以使其更易于理解和掌握。

如图1至图3所示，CPU测试单元自动送检机构，包括具有内腔的检测主体1、滑动装接于内腔的抽屉机构2及设置于内腔顶部的温度控制单元9，其中，抽屉机构2包括抽屉外框3及抽屉内板4，抽屉外框3的侧壁滑动装接有用于提升抽屉内板4的提升导轨5，抽屉内板4活动装配于提升导轨5，具体的，提升导轨5包括复数导向槽，抽屉内板4的侧边设有与导向槽相匹配的复数导向柱12，导向柱与导向槽一一配接，抽屉内板4上设置有测试电路板6及定位销7，测试电路板6上设有装载CPU8的CPU插槽，抽屉外框3上设置有一驱动提升导轨5水平运动的伸缩气缸10，具体的，抽屉外框的内侧具有一装载伸缩气缸的横梁，检测主体1的内腔设有一用于与定位销7配接对抽屉内板4水平向运动进行限位的阻挡销11，该阻挡销仅限制抽屉内板的水平向位移而不会限制抽屉内板的垂直向位移，如图3所示，例如截面为半圆形的轴套与圆柱的配接等，在阻挡销11与定位销7配接状态下，抽屉内板4受驱于提升导轨5具有垂直向位移，在抽屉内板4位于垂直向顶端时，CPU8与温度控制单元9相抵接。

其中，检测主体1包括驱动控制伸缩气缸10的PLC控制器。另外，PLC控制器与温度控制单元相通讯连接。