[实用新型]一种基于QT的跨平台PLC产品工装测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及PLC检测技术领域，尤其涉及一种基于QT的跨平台PLC产品工装测试系统。

背景技术

现有技术中，PLC产品的测试是为了测试PLC产品是否存在硬件或软件上的不良。小型PLC产品，分为CPU单元与扩展单元两类。CPU单元功能丰富，要测量的功能比较多，一般需要测量本体的开关量输入输出、模拟量输入输出、通信接口，包括RS485、RS232、CAN)、SRAM掉电数据保持功能测试、RTC时钟精度测试和EPROM读写测试和扩展总线的供电电源；扩展单元一般只测量响应的功能与扩展总线接口。一般的工装测试产品只能测试硬件上的不良，对于软件或功能上的测试精度不够，大部分还是手动测试，工作量极大，测试结果不准确。

中国专利CN204086983U公开了本实用新型公开一种PLC产品白动测试装置，其包括依次连接的上位计算机、测试工装主机和测试线束，测试线束用来连接被测PLC产品与测试工装主机，测试工装主机包括外部线束接口、CPU以及分别与CPU相连接的两路RS485通信接口、一路RS232通信接口、一路CAN通信接口、24点开关量输入接口、36点继电器输出接口、4通道模拟量输入接口、4通道模拟量输出接口，外部线束接口将上述两路RS485通信接口、一路RS232通信接口、一路CAN通信接口、24点开关量输入接口、36点继电器输出接口、4通道模拟量输入接口、4通道模拟量输出接口集成在一个接口界面上。该专利同样存在专利工装测试产品只能测试硬件上的不良，对于软件或功能上的测试精度低，工作量极大，测试结果不准确的问题。

实用新型内容

为了克服现有技术中的缺陷，本实用新型提供的基于QT的跨平台PLC产品工装测试系统对于软件或功能上的测试精度高，工作量不大，测试结果准确。

本实用新型是通过如下技术方案实现的：一种基于QT的跨平台PLC产品工装测试系统，包括在导轨上按照顺序互联的电源模块、CPU模块、第一总线耦合器模块、第一DO模块、DI模块、AO模块、占位模块、AI模块、第一总线末端模块、第二总线耦合器模块、第二DO模块和第二总线末端模块，所述CPU模块的EH0接口与上位机的ETH0接口基于EtherCAT传输协议实现数据传输，所述上位机与AI/AO自动测试模块连接，所述AI/AO自动测试模块与AI模块连接，所述第一总线末端模块通过工装双绞线与第二总线耦合器模块连接，所述第一DO模块的A端通过工装线缆与DI模块的B端连接，所述第一DO模块、DI模块、AO模块和AI模块分别设有现场IO端子接口，所述CPU模块预留ETH1通过X0主站口与IO系统互联。

进一步地，所述第一总线耦合器模块和第二总线耦合器模块配2个RJ45接口和3个十六进制ID拨码开关，下部的RJ45接口用于连接同一网段上的EtherCAT设备。

进一步地，所述占位模块的EtherCAT端子的信号状态由发光二极管指示，运行LED指示总线耦合器的数据交换状态，故障LED指示过载和断线状态。

与现有技术相比，优越效果在于：本实用新型能克服测试硬件上的不良，对于软件或功能上的测试精度高，实现自动测试且测试结果准确，降低了工作量，提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型所述基于QT的跨平台PLC产品工装测试系统的结构示意图；

图2为本实用新型中的CPU模块测试连接图；

图3为本实用新型中的耦合器模块测试连接图；

图4为本实用新型中的总线末端模块测试连接图；

图5为本实用新型中的占位模块测试连接图；

图6为本实用新型中的DI模块测试连接图；

图7为本实用新型中的DO模块测试连接图；

图8为本实用新型中的AI模块测试连接图；

图9为本实用新型中的AO模块测试连接图；

图10为本实用新型中的AI/AO自动测试模块结构图；

图11为本实用新型中的上位机的工作流程图；

图12为本实用新型中的上位机测试AI模块的工作流程图；

图13为本实用新型中的上位机测试AO模块的工作流程图。

图中箭头方向表示信号传输方向。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型具体实施方式作进一步详细说明。

实施例1