[实用新型]一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及计量信号测试装置技术领域，特别是涉及一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置。

背景技术

随着需要计量功能的仪器仪表或设备(比如电能表、智能插座和带计量功能的设备等)的数量的不断增长，极大地带动了计量芯片产业链，为了保证计量产品的计量精度以及计量安全，对计量产品中的计量芯片的计量功能和性能的测试显得尤为重要，在对计量芯片进行测试时，通常要向待测计量芯片输入计量信号，但现有技术中目前还没有一个专门的用来生成计量信号的计量信号产生装置，特别是在IC验证装置和IC测试装置中。虽然也可以通过函数发生器来生成计量信号，但是函数发生器生成输出信号时，需要人为手动的控制，不利于集成到IC验证装置和IC测试装置中，效率低，且函数发生器构造复杂，成本高。

因此，如何提供一种效率高、低成本的计量芯片校验仪及计量信号产生装置是本领域技术人员目前需要解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种计量信号产生装置，能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低；本实用新型的另一目的是提供一种包括上述计量信号产生装置的计量芯片校验仪。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种计量信号产生装置，包括：

用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；

分别与所述MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据所述第一基准电压给定装置提供的基准电压将所述初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；

与所述DAC连接的、用于增强所述初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将所述计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。

优选地，所述DAC与所述电压跟随器之间还包括：

用于将所述初始模拟计量信号进行分压，得到分压计量信号的分压电路。

优选地，该装置还包括：

与所述电压跟随器连接的、用于对所述计量信号进行滤波，得到最终计量信号的第一RC低通滤波器。

优选地，该装置还包括：

分别与所述第一RC低通滤波器、所述MCU以及地连接的多路选择器，所述多路选择器的输出端与所述待测计量芯片连接，所述多路选择器用于依据所述MCU发送的控制信号选择地信号或者所述最终计量信号作为所述待测计量芯片的输入信号并将其输出至所述待测计量芯片。

优选地，该装置还包括：

与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接的、用于将所述待测计量芯片的输入信号反馈至所述MCU的信号反馈电路。

优选地，所述信号反馈电路包括：

与所述待测计量芯片的计量信号输入端连接、用于对所述待测计量芯片的输入信号进行滤波，得到反馈信号的第二RC低通滤波器；

分别与所述第二RC低通滤波器、第二基准电压给定装置以及MCU连接的ADC，用于将所述反馈信号转换为离散反馈信号，并将所述离散反馈信号输出至所述MCU。

优选地，所述MCU具体包括：

用于存储所述计量信号生成数据的数据存储模块；

与所述数据存储模块连接的、用于将所述计量信号生成数据乘以系数以调整幅值大小，得到第一计量信号生成数据的幅值调整模块；

与所述幅值调整模块连接的、用于将所述第一计量信号生成数据与一固定值相加得到带有偏置电压的第二计量信号生成数据的电压偏置模块；

与所述电压偏置模块连接的、用于控制所述第二计量信号生成数据按照预设频率输出，得到所述初始离散计量信号的定时模块。

为解决上述技术问题，本实用新型还提供了一种计量芯片校验仪，包括上述任一项所述的计量信号产生装置。

本实用新型提供的一种计量芯片校验仪及计量信号产生装置，包括用于根据预先存储的计量信号生成数据生成初始离散计量信号的MCU；分别与MCU以及第一基准电压给定装置连接的、用于依据第一基准电压给定装置提供的基准电压将初始离散计量信号转换成初始模拟计量信号的DAC；与DAC连接的、用于增强初始模拟计量信号的驱动能力，得到计量信号，并将计量信号输出至待测计量芯片的电压跟随器。可见，本实用新型能够根据预先存储的计量信号生成数据自动生成待测计量芯片测试所需的计量信号，构造简单，效率高且成本低。

附图说明