[实用新型]斜向通孔深度检具有效

专利信息
申请号: 201520938383.7 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN205262371U 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 曹国亮 申请(专利权)人: 重庆渝记涵诚机械制造有限公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 赵英
地址: 401520 重庆市*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 深度
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种深度检测工具,特别是斜向通孔深度检具。

背景技术

在机械制作加工领域,通常需要钻孔。为了确保部件之间安装紧密,必须确保孔的深度在规定的范围内。因此,需要对孔的深度进行检测。通常,斜孔深度的检测方式是使用高精度的三坐标检测仪。但是,这种测量方式,不仅需要耗费较长的时间,而且三坐标仪价格昂贵,一般的企业不能接受。而普通的刻度检具,不能简洁的判定产品深度是否合格。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决现有孔深测量检具检测工具造价高,检测时间长,同时,不能测量出所测量火花塞孔深度是否在公差范围内的问题,而提供的一种斜向通孔深度检具。

为了实现上述目的,本实用新型所设计的斜向通孔深度检具,它包括量杆以及套在量杆上的量块;所述量块的上端面与待测斜向通孔所形成的面平行,所述量杆的外端面为基准面,由一个下限深度基准面和上线深度基准面组成;所述下限深度基准面、上线深度基准面到量杆底端的距离分别为通孔加工深度的最小值加上量块高度的总和、通孔加工深度最大值加上量块高度的总和,下限深度基准面和上线深度基准面之间的高度差即为待测通孔的公差值;测量时,先将带测量工件放置在检测平台上,再将量杆插入待测通孔内,并套入量块,使得量块的下端面与工件上端面紧贴,然后用手触摸量杆的外端面,触摸时,如果量杆下限深度基准面或上限深度基准面与量块外端面处于同一平面,或高于下限深度基准面并低于上限深度基准面时,通孔的深度即合格。

进一步的,在量块中部设有一个用于套设量杆的竖向通孔,在量块的一侧设有一个与竖向通孔相联通的横向螺纹孔,在横向螺纹孔处设有一个紧定螺钉,在量杆的侧端设有一个与紧定螺钉相配合的盲孔,所述盲孔的纵向宽度大于紧定螺钉的纵向宽度。

进一步的,为了使得量杆的下端完全接触到检测平台的底端,所述量杆的下端呈球形。

进一步的,在量杆上端、下限深度基准面和上线深度基准面之间设有一竖向凹槽,所述竖向凹槽的横向宽度在3~10mm之间。

与现有技术相比,本实用新型得到的斜向通孔深度检具具有如下优点:

1、通过在在量杆外端面设置一高一低的基准面,并通过用手触摸该基准面,通过触感判断出基准面与量块外端面之间是否存在高度差,从而准确地判断出待测工件中的斜向通孔是否合格,相较之前的测量工具,其测量方法更加简便,测量效率更高。

2、通过在量杆上设置量块,并使得量块的上端面与待测斜向通孔所形成的面相平行,可避免临近通孔上端的外侧面不是平面或有其它凸出部件遮挡时,不便触摸的情况。

附图说明

图1为实施例中检具插入待测斜孔内检测时的状态示意图。

图中:量杆1、下限深度基准面11、上线深度基准面12、盲孔13、竖向凹槽14、量块2、量块上端面21、竖向通孔22、横向螺纹孔23、紧定螺钉3。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

实施例:

本实施例提供的斜向通孔深度检具,如图所示,它包括量杆1以及套在量杆1上的量块2;所述量块上端面21与待测斜向通孔所形成的面平行,所述量杆1的上端面为基准面,由一个下限深度基准面11和上线深度基准面12组成;所述下限深度基准面11到量杆1底端的距离h1与斜向通孔加工深度的最小值加上量块2高度的总和相等,上线深度基准面12到量杆1底端的距离h2与通孔加工深度最大值加上量块2高度的总和相等,下限深度基准面11和上线深度基准面12之间的高度差即为待测通孔的公差值;测量时,先将带测量工件放置在检测平台上,再将量杆1插入待测通孔内,并套入量块2,使得量块2的下端面与工件上端面紧贴,然后用手触摸量杆1的外端面,触摸时,如果量杆1下限深度基准面11或上限深度基准面12与量块上端面21处于同一平面,或高于下限深度基准面11并低于上限深度基准面12时,斜孔的深度即合格;反之,在触摸时如果量杆1的低于下限深度基准面11,或高于上限深度基准面12时,则斜孔深度不合格。

在本实施例中,在量块2中部设有一个用于套设量杆的竖向通孔22,该通孔22略大于量杆1的外径,在量块2的一侧设有一个与竖向通孔22相联通的横向螺纹孔23,在横向螺纹孔23处设有一个紧定螺钉3,在量杆1的侧端设有一个与紧定螺钉3相配合的盲孔13,所述盲孔13的纵向宽度大于紧定螺钉3的纵向宽度。

作为优化,为了使得量杆1的下端完全接触到检测平台的底端,所述量杆1的下端呈球形,球形的接触面更多,更容易接触到检测平面。

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