[实用新型]一种剪切类线性痕迹激光检测系统有效

专利信息
申请号: 201520930508.1 申请日: 2015-11-20
公开(公告)号: CN205139024U 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 潘楠;刘益;宋卫国;沙生;张斌 申请(专利权)人: 云南卡索实业有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 李中强
地址: 650200 云南省昆明*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 剪切 线性 痕迹 激光 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:包括底座(1)、减震板(2)、多功能载物台(3)、横向电控角度位移台(4)、纵向电控角度位移台(5)、中心位置参考板(6)、截头挟持器(7)、镀反光膜的透光镜(8)、高精度激光位移传感器(9)、显微镜移动台(10)、显微镜头(11)、侧光灯(12)、纵向电动滑台(13)和横向电动滑台(13),其中,底座(1)和减震板(2)构成减震台,减震台的上下层为钢板,中间层为减震层,其余部件装置于减震台上;所述的多功能载物台(3)为可平移、旋转和升降结构,中心位置参考板(6)、截头挟持器(7)通过横向电控角度位移台(4)、纵向电控角度位移台(5)固定在多功能载物台(3)上,所述的横向电控角度位移台(4)、纵向电控角度位移台(5)为可在平面±15°内任意方向倾斜角度调节的活动结构,两个电控角度位移台相互垂直重叠安装;显微镜(11)固定在显微镜移动台(10)上,高精度激光位移传感器(9)安装于纵向电动滑台(13),纵向电动滑台(13)和横向电动滑台(14)垂直连接,显微镜装置由镀反光膜的透光镜(8)、显微镜移动台(10)、显微镜(11)和侧光灯(12)组成,显微镜装置主要通过RS232接口连接计算机,传输图像信号;高精度激光位移传感器(9)直接与计算机连接,传输数据;电动滑台的电机连接控制器。

2.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的减震台主要由底座(1)和减震板(2)组成,减震台的上下层为厚重钢板,中间层为孔状减震层。

3.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的多功能载物台(3)底部固定于减震台上,在水平方向上可以进行前后左右的快速移动调节,并且可以做360°旋转,在垂直方向上可以升降调节载物台的高度。

4.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:电控角度位移台主要由横向电控角度位移台(4)和纵向电控角度位移台(5)重叠并相互垂直安装组成,每台电控角度位移台上装配有42步进电机,电机控制线连接与控制器,电机运动可以使相垂直的两轴在±15°内旋转调节角度,实现电控角度位移台上的一个平面在±15°内任意方向倾斜角度调节。

5.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的显微镜装置由镀反光膜的透光镜(8)、显微镜移动台(10)、显微镜(11)和侧光灯(12)组成,镀反光膜的透光镜(8)置于被测截面和高精度激光位移传感器(9)之间,镜筒后端的电子目镜摄像头带有RS232接口,用USB转RS232线连接计算机的USB接口,进行数据传输;其中显微镜(11)由镜筒和电子目镜摄像头组成,显微镜移动台(10)上装载调节镜头与截面镜像的距离来调节焦距的显微镜(11)。

6.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的侧光灯(12)上设有光亮度调节旋钮。

7.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的显微镜移动台(10)设有装步进电机和旋钮,通过旋钮控制步进电机,电动控制调节显微镜移动台(10)的移动,从而调节显微镜的焦距。

8.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的显微镜头(11)由手动旋动调节放大倍数,设有加装步进电机和旋钮,通过旋钮控制步进电机,电动控制显微镜头(11)放大倍数的调节。

9.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统,其特征在于:所述的高精度激光位移传感器(9)采用的是CD33-L50-422型号的高精度激光位移传感器,通过专用控制线直接连接计算的USB接口,高精度激光位移传感器(9)安装于纵向电动滑台(13),两个电动滑台的电机控制线连接于控制器。

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