[实用新型]花键轴形位公差检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及机械零件检测技术领域，尤其是涉及一种花键轴形位公差检测装置。

背景技术

目前类似于桥门式起重机上的运行车轮轴，其与减速机的连接是采用花键轴连接的形式。如果整个花键轴的跳动公差或圆柱度等形位公差不符合设计要求，当花键轴与减速机装配后，减速机会发生类似于振动筛工作时的摆动现象，而这将严重影响整机运行机构各零部件的寿命。因花键轴的花键段是整个圆周上分布的若干齿，所以加工完花键段后，很难对花键轴的花键段的跳动公差或圆柱度等形位公差进行准确测量。加工时对于一些对齿面要求不高的花键轴主要是采用先进行整体热处理，然后再进行花键段的加工，但对于一些对齿面要求较高的花键轴在花键段加工后还须对加工后的齿面单独再进行热处理，这样该花键轴发生跳动公差或圆柱度等形位公差超差的机率就更大。而目前对这类轴的检测主要是在加工花键之前在机床上进行检测，即很难保证加工完成后花键段的跳动公差或圆柱度等形位公差符合设计要求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种花键轴形位公差检测装置，以解决现有技术中存在的难以保证加工完成后花键段的跳动公差或圆柱度公差符合设计要求的技术问题。

本实用新型提供的一种花键轴形位公差检测装置，包括驱动总成、主轴、卡盘、花键套、测量固定架和百分表；所述驱动总成用于驱动所述主轴转动，所述驱动总成的动力输出轴与所述主轴的一端连接，所述主轴的另一端与所述卡盘连接；所述卡盘用于固定花键轴的圆轴段，所述花键套用于套设在所述花键轴的花键段上；所述百分表设置在所述测量固定架上，用于测量所述花键轴的形位公差。

进一步地，还包括支架座，所述测量固定架设置在所述支架座上；所述驱动总成固定在所述支架座的下端面。

进一步地，所述测量固定架包括底板、导轨和滑座；所述底板与所述支架座连接，且所述底板能够沿所述支架座的径向移动；所述导轨与所述底板固定连接；所述滑座套设在所述导轨上，且所述滑座能够沿所述导轨的长度方向滑动；所述百分表安装在所述滑座上。

进一步地，所述支架座呈圆盘形，所述支架座的上端面设置有多个滑槽，多个所述滑槽沿所述支架座的周向均匀分布；所述底板滑动设置在所述滑槽中。

进一步地，所述卡盘的爪数为2～6个。

进一步地，所述支架座的下端面设置有多个支脚，多个所述支脚沿所述支架座的周向均匀分布。

进一步地，还包括轴承座；所述轴承座固定在所述支架座的上端面；所述轴承座的内部设置有两个轴承，两个所述轴承上下分布；所述主轴穿设在两个所述轴承上。

进一步地，所述花键套上还设置有挡板，所述挡板用于将所述花键套固定在所述花键轴的花键段上。

进一步地，所述形位公差包括跳动公差和/或圆柱度公差。

进一步地，所述滑槽的数量为4个。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的花键轴形位公差检测装置，包括驱动总成、主轴、卡盘、花键套、测量固定架和百分表；驱动总成用于驱动主轴转动，驱动总成的动力输出轴与主轴的一端连接，主轴的另一端与卡盘连接；卡盘用于固定花键轴的圆轴段，花键套用于套设在花键轴的花键段上；百分表设置在测量固定架上，用于测量花键轴的形位公差。通过将加工完成后的花键轴的圆轴段安装在卡盘中，将花键套套设在花键轴的花键段上后，使百分表的测量头与花键套接触，当驱动总成工作时，驱动总成驱动主轴转动，主轴的转动带动卡盘中的花键轴转动，此时上下移动安装在测量固定架上的滑座，通过花键套间接地检测出该花键轴的花键段的形位公差；而对于该花键轴的圆轴段的形位公差可直接将百分表的测量头与检测部位接触，然后上下移动安装在测量固定架上的滑座，即可完成对该花键轴的圆轴段的形位公差的检测，从而完成对整个花键轴的形位公差的检测。本实用新型结构简单、操作方便、检测结果具有较高的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的花键轴形位公差检测装置的主视图；

图2为图1中沿A-A线的局部剖视图；

图3为本实用新型实施例提供的花键轴形位公差检测装置的俯视图。

附图标记：

101-驱动总成；102-主轴；