[实用新型]热波成像膜层厚度检测系统有效
| 申请号： | 201520908679.4 | 申请日： | 2015-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN205228414U | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 陈力 | 申请（专利权）人： | 南京诺威尔光电系统有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210038 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 成像 厚度 检测 系统 | ||
1.一种热波成像膜层厚度检测系统，其特征在于，所述系统包括：
热激励单元（22），所述热激励单元（22）用于产生高能量脉冲辐射，并在被测试件（24）表面激发脉冲热波；
热激励驱动源（21），所述热激励驱动源（21）用于驱动所述热激励单元（22）；
红外成像装置（25），所述红外成像装置（25）采用逐行扫描方式，用于采集所述被测试件（24）表面的热波信号；
数据采集处理系统（27），所述数据采集处理系统（27）用于采集热波图像及进行分析处理；
同步控制单元（23），所述同步控制单元（23）用于调整所述热激励单元（22）和红外成像装置（25）图像采集之间的时序关系。
2.根据权利要求1所述的热波成像膜层厚度检测系统，所述热激励单元（22）为大功率闪光灯。
3.根据权利要求1所述的热波成像膜层厚度检测系统，所述热激励单元（22）为大功率激光器。
4.根据权利要求1所述的热波成像膜层厚度检测系统，所述红外成像装置（25）包括一维红外阵列探测器（51）与扫描振镜（53）。
5.根据权利要求1所述的热波成像膜层厚度检测系统，所述红外成像装置（25）包括单像素红外探测器与二维扫描振镜。
6.一种热波成像膜层厚度检测系统，其特征在于，所述系统包括：
热激励单元（22），所述热激励单元（22）用于产生高能量脉冲辐射，并在被测试件（24）表面激发脉冲热波；
热激励驱动源（21），所述热激励驱动源（21）用于驱动所述热激励单元（22）；
数据采集处理系统（27），所述数据采集处理系统（27）用于采集热波图像及进行分析处理；
移动平台（62），所述移动平台（62）用于承载所述被测试件（24）进行一维扫描；
一维红外阵列探测器（51），所述一维红外阵列探测器（51）用于采集所述被测试件（24）表面的热波信号；
同步控制单元（23），所述同步控制单元（23）用于调整所述热激励单元（22）与所述一维红外阵列探测器（51）和所述移动平台（62）之间的时序关系。
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