[实用新型]LED灯综合测试仪

权利要求书

1.LED灯综合测试仪，其特征在于：包括高低温试验控制箱(1)，所述高 低温试验控制箱(1)的一侧并接有LED光衰测试装置(2)，且所述LED光衰 测试装置(2)配合于高低温试验控制箱(1)布置；

所述高低温试验控制箱(1)由高低温试验箱(11)及高低温控制装置(12) 组成，所述高低温控制装置(12)配合于高低温试验箱(11)布置，所述高低 温试验箱(11)内开设有一放置产品的容纳腔(111)，所述容纳腔(111)内设 置有固定放置架(112)，所述容纳腔(111)的一侧面上开设有通孔(113)，所 述通孔(113)布置于与LED光衰测试装置(2)相并接的一侧面，所述通孔(113) 上装嵌有透光组件(114)，所述高低温控制装置(12)由控制器(121)、高低 温控制器(122)、温度感应器(123)、时长控制器(124)和电源控制器(125) 组成，所述控制器(121)的输出端与高低温控制器(122)的输入端相连，所 述控制器(121)的输出端还与温度感应器(123)的输入端相连，所述控制器 (121)的输出端与时长控制器(124)的输入端相连，所述控制器(121)的输 出端与电源控制器(125)的输入端相连，所述温度感应器(123)伸入至容纳 腔(111)内布置，所述容纳腔(111)在高低温控制器(122)的控制下，所述 容纳腔(111)的温度范围在-50°～300°；

所述LED光衰测试装置(2)由光衰测试通道箱(21)和光衰测试控制装 置(22)组成，所述光衰测试通道箱(21)内开设有一光衰测试通道(211)， 所述光衰测试通道(211)正对通孔(113)，并与固定放置架(112)上的产品 相配合布置，所述光衰测试控制装置(22)由光衰控制器(221)、光衰感应器 (222)、采集分析处理装置(223)组成，所述光衰控制器(221)的输出端与 光衰感应器(222)的输入端相连，所述光衰感应器(222)的输出端与采集分 析处理装置(223)的输入端相连，所述采集分析处理装置(223)的输出端与 光衰显示器的输入端相连。

2.根据权利要求1所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述容纳腔 (111)的内壁上设置有用于移动固定放置架(112)上下位置的固定卡条(115)， 呈相对布置。

3.根据权利要求2所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述固定卡 条(115)上开设有多个相同间隔的卡口(116)。

4.根据权利要求1所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述光衰测 试通道(211)的直径大于或等于通孔(113)的直径。

5.根据权利要求1所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述容纳腔 (111)的温度范围在-40°～280°。

6.根据权利要求1所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述高低温 试验控制箱(1)上还设置有高低温显示器(13)，所述高低温显示器(13)与 高低温控制装置(12)相连。

7.根据权利要求1所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述透光组 件(114)由单层或多层相同材质的透光耐高低温玻璃组成。

8.根据权利要求1所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述光衰感 应器(222)在光衰测试通道(211)内设有多个，且相对透光组件(114)布置。