[实用新型]一种大功率MOSFET的测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测工具领域，尤其涉及一种大功率MOSFET的测试夹具。

背景技术

现有的检测MOSFET的过程中因无产品测试装置，给产品的研制以及今后的生产带来不便。现在采用开尔文测试线进行测试，因无测试夹具使测试效率低、精度差，不能满足产品研制及生产的需要。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型旨在提供一种大功率MOSFET的测试夹具。

本实用新型是通过如下技术方案予以实现的：

一种大功率MOSFET的测试夹具，包括其底板、中板、盖板、支架、锁扣，中板安装在底板上，盖板安装在支架上，支架安装在中一板的一端，锁扣安装在盖板的一侧。

所述底板中部开穿线孔，底板四角上均依次从外向内开有下通孔、螺栓孔。

所述中板中部开有与元件匹配的安装槽，安装槽底部开有与下穿线孔相对的上穿线孔，中板四角开有与螺栓孔匹配的沉头孔，中板的一端开有矩形槽安装有支架，另一端设置有凸台。

所述盖板两端设置有两对铰链板，铰链板中心开有铰链孔，所述锁扣安装在一对铰链板间并由铰链轴穿过其中部的通孔与盖板铰接。

本实用新型的有益效果是：

与现有技术相比，本实用新型提供的一种大功率MOSFET的测试夹具补全了MOSFET检测夹具的空白，使MOSFET检测不仅达到了测试精度要求，而且提高了测试效率：测试时只需将产品放置在装置上并扣上盖板即可，操作简单。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的底板结构图；

图3是本实用新型的中板结构图；

图4是本实用新型的盖板结构图；

图5是本实用新型的锁扣结构图。

图中：1-底板，11-通孔，12-螺栓孔，13-下穿线孔，2-中板，21-上穿线孔，22-沉头孔，23-凸台，24-安装槽，25-矩形槽，3-盖板，31-铰链板，32-铰链孔，4-支架，5-锁扣，51-铰接孔。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的技术方案作进一步说明，但所要求的保护范围并不局限于所述；

如图所示，本实用新型提供的一种大功率MOSFET的测试夹具，包括其底板1、中板2、盖板3、支架4、锁扣5，中板2安装在底板1上，盖板3安装在支架4上，支架4安装在中一板2的一端，锁扣(5)安装在盖板的一侧。

所述底板1中部开下穿线孔13，底板1四角上均依次从外向内开有通孔11、螺栓孔12。

所述中板2中部开有与元件匹配的安装槽24，安装槽24底部开有与下穿线孔13相对的上穿线孔21，中板2四角开有与螺栓孔12匹配的沉头孔22，中板2的一端开有矩形槽25安装有支架5，另一端设置有凸台23。

所述盖板3两端设置有两对铰链板31，铰链板31中心开有铰链孔32，所述锁扣5安装在一对铰链板31间并由铰链轴穿过其中部的铰接孔51与盖板铰接。

本实用新型在使用时将MOSFET放置在安装槽24内，通过穿线孔穿线接好测试线路后，盖上盖板3将盖板上铰接的锁扣5锁好了即可以开始测试。